中古 MOSAID MS 3490 #137684 を販売中

MOSAID MS 3490は、誘電体シリコン（DOSS）デバイスの電気試験および分析用に設計された最終試験装置です。このシステムは、ディスプレイドライバICや高速ロジックICなどの次世代DOSS半導体デバイスの解析およびテストの精度と速度を向上させるように設計されています。ハイスループットテストおよび分析機能を提供し、最大スループットは毎秒160デバイスです。MS 3490は、多機能スキャン顕微鏡を使用して、試験対象デバイス（DUT）の高精度イメージングを実現しています。この顕微鏡は、5µm以下の精度で、高精度の電動X-yステージを備えています。それはイメージ投射、エピタキシャル層の点検、漏出電流のマッピングおよびパワー消費量の測定に使用することができます。テストを行うために、ユニットには、ウェハレベルパッケージ、レーザーボンダー、アライナー、光源マシン、温度センサーを備えた特別な3次元テストヘッドが装備されています。MOSAID MS 3490ツールには、資産の頭脳として機能する洗練されたコントローラも含まれています。イメージング装置と試験装置の両方を制御することができ、シームレスで自動化された試験プロセスを可能にします。コントローラには、電圧および電流測定のデータ、およびイメージング操作の結果を記録するデータ取得モデルも組み込まれています。MS 3490は、テストおよびイメージング機能に加えて、統計データ、表形式データ、グラフィカルデータ、および画像を含む分析のための効率的なレポートを生成することができます。データは、さらなる分析のために、さまざまなファイル形式でエクスポートすることができます。全体として、MOSAID MS 3490は、DOSSデバイスの迅速かつ正確なテストと分析を可能にする、強力で汎用性の高い最終試験装置です。高精度の顕微鏡検査機能、高度な試験技術、高度なコントローラにより、合理化された効率的なプロセスが保証され、製造メーカーは高品質のデバイスを生産しながら納期を満たすことができます。