中古 MOSAID MS 3440 #9361524 を販売中

MOSAID MS 3440は、半導体デバイスの高性能試験と最適化を可能にするために設計された最先端の最終試験装置です。MOSAIC （Multiple Optimizations of Semiconductor Assembly and In Circuit）などの先進技術を搭載しており、ハードウェアテストパラメータの動的調整、NVM （Non-Volatile Memory）テスト機能、ソフトウェア制御ハードウェアのステップバイステップ解析が可能です。MS 3440は、設計検証から製造まで、テストエンジニアリングのすべての段階をカバーする汎用性の高いテストシステムです。MOSAID MS 3440は柔軟性と適応性を念頭に置いて設計されており、さまざまなモードでテストハードウェアを最適化するために自動調整と手動調整の両方を行うことができます。テストユニットは、すべてのタイプの集積回路の機能特性、電気特性、回路関連パラメータをリアルタイムで分析します。デジタルI/O、 アナログI/O、メモリストレスと検証を1つのプラットフォームで組み合わせ、より高いテストカバレッジを実現します。さらに、このマシンは、高速試験を可能にするために、故障カバレッジと分析方法を内蔵しています。MS 3440は、半導体デバイスの正確なテストと最適化に必要な機能装置の広範なパッケージを含んでいます。最大4つのサーマルステーション、プログラム可能な電源、高度な温度制御機能、レベルシフター、混合信号テスター、スコープ、ロジックステートアナライザ、その他のツールが装備されています。このテスターには、プログラム可能で再集計可能なハードウェア構成、プログラム可能なデバイスプログラミングおよびハードウェア自動解析機能も含まれています。その構成可能なハードウェアには、特別な高インピーダンスプローブと、低レベル信号を正確に測定するためのケーブルが含まれています。さらに、MOSAID MS 3440は、堅牢なソフトウェア制御プログラミングプロセスを備えており、デバイスのパフォーマンスを正確に分析および最適化できます。このツールのレーザーシフト技術を使用して、設計エンジニアは資産レベルのテスト、生産歩留まりの改善、ハイエンドのデバイス特性評価を実施できます。このテストモデルは、FPGAおよびCPLDプログラミングにも対応しており、さまざまな構成可能で自動化された設計解析ツールを提供します。さらに、本質的な欠陥カバレッジ分析は、見つけにくい欠陥の検出と歩留まり改善を支援することができます。全体として、MS 3440は、製造および開発ニーズに合わせて、信頼性の高い効果的な半導体デバイスのテストと最適化を提供します。その高度なハードウェアと高度なソフトウェア技術は、開発と製造コストを削減し、テスト時間を短縮し、歩留まりを改善します。