中古 MOSAID M4205 #9299259 を販売中

MOSAID M4205は、生産環境向けに設計された最先端の最終試験装置で、今日の最先端のIC技術で最大限の効率を発揮します。M4205は、ディスクリートICから最大8,000万ゲートの複雑なICまで、さまざまな半導体デバイスをテストすることができる単一の統一されたハードウェアアーキテクチャを備えたスケーラブルなテストプラットフォームを提供します。この高性能システムは、MOSAID第4世代マルチサイトユニット技術に基づいており、1サイトあたり最大1,500ピンを提供し、AlteraのMax 10 FPGAやXilinxのArtix-7 FPGAなどの業界リーダーの最新技術を備えています。フラッシュ、DRAM、 SRAM、 NANDなどのさまざまなメモリタイプと、幅広い速度グレードをサポートするように最適化されています。モジュラーアーキテクチャにより、最大800のテストチャネルと4つのテスターを並列に使用して、スタンドアロンのgo/no-goとスキャンベースのテストの両方で構成の柔軟性を実現します。MOSAID M4205は、アナログ・マージン・テスト、冗長テスト、ウェハプロービング、OTPプログラミング、診断テストなど、幅広い出力テスト機能を備えています。デジタル署名解析、ブリッジ抵抗検出、機械内セルフテストなどの高度なプログラミングおよびテスト技術を使用して、最高レベルの信頼性を確保しています。M4205は、スループットを向上させ、歩留まりを向上させるための構成可能なテスト戦略も提供します。その他の機能として、24 Gb/秒の外部帯域幅、高度なデータ圧縮、自動化された部品選択、単一の独立した検証および検証（IV&V）ツールによる100％テストカバレッジ、トランジスタ値の検出によるテスト時間の最適化、CADデータベースの読み込みとフォーマット変換のサードパーティによるサポートがあります。MOSAID M4205は、既製の診断ツールを幅広く内蔵し、既存の生産ラインと統合する準備ができた完全な資産です。使いやすく、包括的な接続性、測定整合性、およびテスト開発設備を提供し、ICデバイスのテストを合理化し、テストコストを削減し、市場投入までの時間を短縮します。