中古 MENTOR GRAPHICS / IKOS Veloce 2 Quattro #9223215 を販売中

MENTOR GRAPHICS/IKOS Veloce 2 Quattroは、最終生産段階で半導体デバイスをテストするために設計された最終試験装置です。境界スキャン、インサーキットテスト、自動光検査技術を単一のプラットフォームに統合します。テスト中のデバイスを包括的に可視化し、デバイスの設計と動作に関する詳細なリアルタイム情報を提供します。IKOS Veloce 2 Quattroは、最大4台のデバイスに対して独立したテストおよび検証リソースを提供します。高速画像取得システムを内蔵し、テストプロセス中に数ギガヘルツの信号をキャプチャできます。このユニットは、高速なプロセッサ実行速度をサポートし、ユーザーは分散処理アーキテクチャを利用することができます。MENTOR GRAPHICS Veloce 2 Quattroには、高速単層AFM （Atomic Force Microscopy）試験ステーションが搭載されており、さまざまな応力条件にさらされたときのデバイスの電気的および機能的性能の特性評価を可能にします。また、バウンダリスキャン、インサーキット、マシンレベルのテストのための幅広いプログラミング言語やツールを利用することができます。Veloce 2 Quattroは「、仮想処理」と「記述子ベースのテスト」の機能も提供し、デバイス検証とテストのコストを削減します。MENTOR GRAPHICS/IKOS Veloce 2 Quattroはオフラインテストスイートも提供しており、ユーザーはデバイスの動作をシミュレートし、本番環境で自動テストを作成できます。このツールには、ユーザーが測定、資産ノイズ、およびデバイス固有のデータに素早くアクセスできるようにする、一連のデータ取得および分析ツールが含まれています。オンボードビューアを使用すると、ユーザーはキャプチャされたテストデータを分析できます。これは、サードパーティ製ソフトウェアと統合することができます、そして、ユーザーが表示することができます「大きな画像」故障解析の、または詳細なアプリケーションテスト。ソフトウェアはまた、ビット構成プログラミングだけでなく、シリアルおよびパラレルデバイスプログラミングを備えています。全体として、IKOS Veloce 2 Quattroは、幅広い半導体テストおよび検証プロトコルをサポートするように設計された、強力で効率的で信頼性の高い最終テストモデルです。ハードウェア/ソフトウェアの統合機能を提供し、ユーザーは本番テスト手順を最適化し、より迅速で正確な結果を得ることができます。