中古 LTX-CREDENCE Sapphire NP #9128065 を販売中

ID: 9128065
76-Slot IC, Automated test system.
LTX-CREDENCE サファイアNP(旧サファイアスキャンNP)は、複数のテストニーズに対応するためにLTX-CREDENCEによって設計された最終試験装置です。このシステムは柔軟なモジュラーパッケージで提供されているため、個々のニーズに合わせてカスタマイズすることができます。このユニットは、Sapphireプラットフォームの高度な自動テスト処理機能を利用しています。このマシンは、さまざまなテストICコンポーネント用のロードポートを備えた組み込みハンドラ、レーザマーキング機能、およびテストIC操作用のロボットレールツールを使用しています。これにより、入出力コンポーネントフローが完全に自動化されたIn/Out-of-spec処理、およびテストグレードおよび光学検査が可能になります。最新のActiveX制御アセットにより、リモートプログラミングと制御が可能になり、オペレータは状態をすばやく監視し、テストIC実行の製造を管理できます。このプラットフォームは、複数のICとプローブカードを同時にテストするための広範なテストレートとさまざまなテストチャネルを可能にします。1つのプラットフォームでさまざまな標準サイズのICテストパッケージに対応できます。また、試験IC操作時にプローブカードを正確に配置することが可能な統合ビジョン装置を搭載しています。小さな<abbr title=「Device Under Test」>DUT </abbr>から高度なマルチピン構成まで、複数のテスト構成がサポートされています。このシステムのライブラリ管理機能により、迅速なテストリコールが可能になり、テスト実行が高速化されます。さらに、強力なソフトウェアベースの歩留まりとテストアルゴリズムの広範なリストを通じて、テストの可視性とパフォーマンスを向上させます。このソフトウェアは、高度なエラー処理とテスト複製機能を提供し、ユーザーが歩留まりとパフォーマンスの問題を迅速に診断することができます。機械の主な利点の1つは、その柔軟性にあります。その幅広いツールハードウェアとアクセサリにより、基板テスト、統合パッケージベースのテスト、生産テストプロセスなど、さまざまなアプリケーションを満たすことができます。さらに、簡単で直感的なソフトウェアインターフェイスと内蔵の拡張可能なメモリモジュールにより、ユーザーはテスト結果をプログラム、分析、保存、デバッグできます。最後に、この資産はカスタマイズ可能なレポートを提供し、ユーザーがテストのステータスを評価し、結果を監視し、検証などのプロセス活動をより迅速に実行できるようにします。全体として、Sapphire NPは柔軟性が高く信頼性の高いテストモデルであり、さまざまなアプリケーションで使用できます。自動テストハンドリング機能とActiveX制御により、テストサイクルの高速化とテストの可視性の向上を実現し、包括的なライブラリ管理によりテストリコールの高速化を実現します。装置のハードウェアおよび付属品の広い範囲はそれをあらゆるICテストソリューションのための理想的な選択にさせますいろいろテスト必要性を満たすことができることを保障します。
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