中古 LTX-CREDENCE Fusion MX #9168658 を販売中
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ID: 9168658
ヴィンテージ: 2008
Tester
Configuration:
(1) WS DEL380
(2) SBAII's
(2) OVI's
(1) HCOVI
(2) VI16B's
(2) DIGHSB's
(2) AWGHSB's
(4) FX1's (64) Channels
RF System:
(1) SMATE 100
(2) SMATE 200's
(1) DVM 34401A
RF16 Port:
(2) Bricks
RF Loadboard kit
RF CAL Kit
Interconnect LB
DCACCal Loadboard
User power unit: DC12V, +-36V
Cbit 64
Stand
MCB:
BIN Display
Remote start
Currently de-installed and warehoused
2008 vintage.
LTX-CREDENCE Fusion MXは、半導体業界の特定のニーズに合わせた非常に複雑な最終試験装置です。これは、テストプログラムの生産性を最大化し、テスト中のデバイスの包括的な検査と分析を提供するように設計されています。Fusion MXは、幅広い半導体集積回路の欠陥を検査および識別するための包括的なシステムを形成する、ハードウェアおよびソフトウェアモジュールの統合されたスイートです。LTX-CREDENCE Fusion MXは、自動化されたデジタル検査システム、光学イメージングおよびプロービング、シリアルリンクテスター、故障診断システム、AC、 DC、および温度テストシステムなど、さまざまな試験機器とツールを使用しています。このユニットは通常、ウェーハテストとプリパッケージデバイスのテストを実行するために使用されます。ウェーハテストの場合、Fusion MXは最大数千台のデバイスを同時にスキャンできるため、生産テストプロセスのスピードアップに役立ちます。このマシンはまた、強力な熱管理ツールを備えており、テスト作業中に微細な温度変化を検出することができます。LTX-CREDENCE Fusion MXはまた、チップの性能特性の高精度な診断と追跡を可能にする幅広い統計解析、トレンド予測モデルを備えています。これは、デバイスの歩留まりを向上させるだけでなく、時間の経過とともに製品の品質と信頼性を維持するための基礎を提供します。さらに、電気インピーダンス測定を行い、半導体デバイスの特性を正確にマッピングすることができます。Fusion MXの高速および高密度試験機能は、デバイスの信頼性と性能を向上させるために特に有用です。高度な高密度テスト機能により、デバイスの問題を正確に特定して診断するだけでなく、デバイス上のターゲットとなる場所をスキャンして潜在的なパフォーマンスの欠陥を検出することができます。このモデルは、高度なソフトウェアベースの計算と予測モデルを使用してテスト結果を決定します。要するに、LTX-CREDENCE Fusion MXは、集積回路の堅牢なテストと分析のための強力で高効率なパッケージを提供します。半導体業界で最も要求の厳しいアプリケーション向けに設計されており、その高度な機能により、現代のデバイス開発や業界標準に適しています。
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