中古 LTX-CREDENCE Diamond D10 #9108980 を販売中

LTX-CREDENCE Diamond D10は、多くの高性能エレクトロニクス企業が部品の欠陥や欠陥を検出するために使用する「最終試験」装置です。このシステムは、高い歩留まりで正確な結果を保証する安定した繰り返し可能なテスト実行を提供するように明示的に設計されています。ダイヤモンドD 10は、幅広い用途に適した堅牢で柔軟なテスターアーキテクチャを備えています。複数のテスター機器は、精密なデバイス特性評価と正確な測定を提供することができます。これらの機器は、デバイスのテストを正確に制御し、電圧と電流を正確に制御するのに役立ちます。また、試験による損傷や性能のばらつきからの保護が内蔵されており、リモートデバイス制御も可能です。このユニットはまた、高効率のデバイス特性評価と試験プロセスを誇っています。高度な容量性、誘導性、およびRF特性測定器は、測定の精度と再現性を確保するのに役立ちます。インストゥルメントクラスタは、多種多様な統計解析とビットパターンキャプチャも可能です。LTX-CREDENCE Diamond D10は、テスト中のリアルタイム監視とデジタル故障診断を備えた包括的な故障検出機能も提供します。このマシンには、高い歩留まりと欠陥を確保するのに役立つ強力なテストユーティリティが含まれています。このツールは、LTX-CREDENCE特許取得済みのテストソフトウェアと組み合わせて使用すると、デバイスのパフォーマンスと歩留まりの最適化を最大化できます。これにより、エラーソースを特定し、テスト時間を最小限に抑えることができます。これにより、可能な限り最高の歩留まりが保証され、設計者は損失を最小限に抑えることができます。このアセットは、業界をリードするマルチサイトテストも備えており、複数のテストサイトを接続して並列にテストすることができるため、時間を節約し、コストを削減できます。全体として、Diamond D10は高信頼性の「最終テスト」モデルであり、正確で再現性のある結果を得ることができます。堅牢で柔軟なアーキテクチャと、高効率のプロセスとフォルト検出により、歩留まりを最大化し、デバイスの故障率を低減します。この装置のマルチサイト試験機能により、時間の節約とコスト効率がさらに向上し、多くの高性能エレクトロニクス企業にとって理想的な選択肢となります。