中古 LTX-CREDENCE D10 #9101001 を販売中

LTX-CREDENCE D10 Final Test Equipmentは、デバイスの高速で効率的で信頼性の高いテストを可能にする最先端の自動試験装置（ATE）ソリューションです。特に、マイクロプロセッサ、システムオンチップデバイス、デジタル信号プロセッサ、その他の複雑なデバイスなどの半導体部品や集積回路（IC）に適しています。このATEソリューションは、すべてのデバイスが正確かつ厳密にテストされることを保証するために、複数の動作モードを備えた高度なテスト機能を提供します。このユニットは10サイトのプラットフォーム、低コストのアーキテクチャ、並列テストを備えており、あらゆる種類のテストのニーズに対応できます。半ランダムから高度なメモリテストと境界スキャン操作を実行でき、内蔵の診断機能とデータキャプチャ機能を備えています。LTX-CREDENCE D-10試験機には最先端のハードウェアが搭載されており、強力な8-GHzデュアルコアプロセッサとハイパフォーマンスメモリにより、最高レベルのスピードスループットを実現しています。革新的で前向きで水平スケーラブルなアーキテクチャを採用しているため、必要に応じて迅速なスケーラビリティと再構成が可能です。このツールはまた、マルチフォーマットIO、デバイスアンダーテスト（DUT）ハーベスト、低コストのフリップチップ、ハイスループットトランジスタ、および複数のタイプのパッシブコンポーネントテストに最適化されたなど、幅広いテストエレクトロニクスを提供します。さらに、このアセットは、さまざまなデジタルボードと、Powerrail Dynamic Scanning （DCT）や高速デジタル波形測定（HDW）などの高度な機能をサポートしています。最後に、D 10 Final Test Modelは、モジュラーアーキテクチャとソフトウェア診断のおかげで簡単にメンテナンスできます。また、機内診断、エラー報告、テスト結果分析も提供しているため、製品の品質を保証し、信頼性の高い結果を保証することができます。この高度なATEシステムは、複雑なデバイスの正確で信頼性の高いテストを保証するのに役立ち、あらゆる半導体テストラボにとって貴重なツールとなります。