中古 KEITHLEY S-250 #171022 を販売中

KEITHLEY S-250 Final Test Equipmentは、高精度、高速半導体の最終試験システムです。最新の試験および測定技術と業界で最も人気のある半導体最終試験装置プラットフォームを組み合わせています。S-250は、8、16、および32ビットのデジタルパターンテストを備えており、利用可能な最高速度と最高精度を提供します。機械は高性能、速いパス/失敗の意思決定および洗練された、自動テストフロー制御を提供します。今日最も要求の厳しいテストアプリケーションのニーズを満たすように構成することができます。KEITHLEY S-250は、統合された高性能テストヘッド、計装、I/Oを備えた高速スループットと精度を提供します。8、16、32ビットテスターは、電圧、電流、温度、周波数、ノイズなど5つの測定ツールパラメータを同時に評価することができ、最高レベルの試験精度を提供します。アセットの統合計測モデルにより、テストモードを切り替えることなく、すべての信号を高速で同時にテストできます。S-250は、インピーダンス試験、高周波測定、パラメトリックテストなどの高度な試験および測定技術をサポートしています。また、オートフォーカス、自動欠陥分離、デュアルレベルOCR（光学文字認識）、バーコード読み取り/解釈、オートカリブレーション、自動欠陥検出などの高度なテストおよびオートメーション機能もサポートしています。さらに、KEITHLEY S-250には高度な制御ソフトウェアが付属しています。このソフトウェアのグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）は、直感的で使いやすいテストプログラミングを提供し、組み込みのテストトラッキングとレポート機能によってテスト時間を大幅に短縮します。ソフトウェアはまた、簡単なデータ比較、柔軟なテストのカスタマイズと統合、完全な障害診断と分析をサポートしています。S-250は、幅広いATE（自動試験装置）、アクセサリ、その他の計測機器をサポートしています。これは、すべての主要なテストプラットフォームと互換性があり、分散アーキテクチャにより、容易なスケーラビリティと低い総所有コストを保証します。また、SCO（システム互換オープン）とIEEEをサポートしており、テストのセットアップとスループットを高速化します。KEITHLEYのS-250は速く、正確な半導体の最終試験プロセスを可能にし、低コスト、高性能および信頼性の高い設計はそれに製品開発、工学および生産のチームのための理想的な選択をします。その革新的な機能、高速性、精度により、幅広い半導体テストおよび測定アプリケーションに最適なソリューションです。