中古 IMS ATS2 FT Blazer #52524 を販売中
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ID: 52524
ヴィンテージ: 1996
IC tester (ATE)
Dual bays
(13) Data modules 200 Mhz, one scan module
128 digital channels
Slave timing FT (4 Meg x 12 timing generators)
Boards in system:
(3) 120-268-722
(2) 120-268-861
(2)120-268-862
(2) 120-297-602
121-0292-602
(5) 121-268-862
121-268-932
121-292-701
630-092-000
De-installed, in storage
1996 vintage.
IMS ATS2 FT Blazerは、半導体デバイスの精密試験を行うために特別に設計された最新の最終試験装置です。システムは積み重ね可能で、シングルサイトとマルチサイトの両方のテストアプリケーションを提供します。スケーラブルなユニットで、最大16台のデバイスを同時にテストできるため、大量生産ラインに適しています。機械は確立されたATS2のプラットホームに基づいており、最終テストのプロセスを生産ラインに装備し、コストを削減し、スループットを改善するのに役立ちます。この高性能ツールは、準備、アセットメモリ、シーケンシング、大容量メモリを組み合わせ、高度なソフトウェアスイートを通じてテスト済みデバイスの完全なトレーサビリティを実現します。ATS2 FT Blazerには複数のハードウェアコンポーネントが組み込まれており、他のシステムとの通信を可能にするI/Oインターフェイスや、オペレータ側から直接モデル制御用の専用ファイアワイヤポートなど、包括的で信頼性の高いテストソリューションを提供しています。この装置には堅牢なテストヘッドが装備されており、テストを一貫して効率的に管理し、可能な限り最高の収量を確保します。システムのソフトウェアモジュールは業界最高水準を念頭に開発され、優れた信頼性と柔軟性を提供しながら、自己診断サービスも提供しています。コンピュータ化されたテストスケジューリングソフトウェアパッケージが含まれており、最大1000のテストパラメータを分析し、特定のデバイスタイプに固有のカスタムテストテンプレートを生成できます。さらに、このユニットはオペレータに、データ構成スイートを通じてテストをカスタマイズする機能を提供します。この高度に適応可能なモジュールにより、測定タイプと手順に基づいてテストを構成でき、ユーザーは質的により良い結果を提供することができます。IMS ATS2 FT Blazerは、多くの一般的な業界標準に準拠しています。このマシンは、ワッフルソート、ソケット試験、高密度BGA/CSPパッケージに適しており、多くの半導体メーカーに高速で信頼性の高いソリューションを提供します。
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