中古 BXM 2010MEL #9225031 を販売中
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ID: 9225031
EL Tester
Resolution: 16 M
Room temperature: 30°C
Exposure time: 1-60S Adjustable
EL Image display:
Zoom
sample code display
Image processing:
Gain
Gray scale
Shear
Rotate
Search: Bar code & date
Operating system: WINDOWS XP
Air supply requirements: 0.6~0.8 MPa
Maximum testing range: 2000x1000 mm
Testing cycle: 20s
Power up mode:
Before lamination: Module is charged connection by clip
After lamination: Module is charged connection by plug
Working environment:
Temperature range: +15°C~+40°C
Humidity range: 10%~75%
Power supply: DC100V / 10A
Power requirements: AC220V, 15A, 3kW.
BXM 2010MELは、最新の高性能電子部品およびアセンブリの試験および分析用に設計された高度な最終試験装置です。業界をリードする設計アーキテクチャと高度なデータ処理および分析機能を備えており、製品の迅速かつ正確なテストを可能にします。このシステムは、さまざまな電子デバイスの性能と機能、および異なるコンポーネント間の関係を理解するために最適化されています。2010MELは、包括的なテストソフトウェアとハードウェア機能を備えています。単位は温度および湿気のような事を測定する環境センサーがあるテストヘッドのための中心コントローラー、ハウジングから成っています、 温度キャリブレーションユニット、電子部品を挿入するためのアクセスポートを備えたテストヘッド、 複数のチャネルが付いている低雑音の制御段階、ローパスが付いているプログラム可能なフィルター、 ハイパス、バンドパスおよびノッチフィルター、およびデジタル電源。アナログ、デジタル、ミックスドシグナルコンポーネントなど、さまざまな製品のさまざまなテストを行うことができます。これは、スイッチング、ブール値、時間間隔、静的/動的測定などの中規模および大規模集積回路およびコンポーネントのテストに幅広い技術を使用しています。応用刺激はテストされるプロダクトの特徴に従って変えることができます。さらに、テストツールは、タイムシーケンス、スペクトル分析、パラメトリックデータ分析、高速フーリエ変換などの広範なデータ処理機能を提供できます。BXM 2010MELはユーザーフレンドリーに設計されており、包括的なグラフィカルユーザーインターフェイスを提供しています。直感的なインターフェースにより、ユーザーは簡単に測定設定を作成し、公差と条件を定義し、動的テストと分析のための刺激と応答を設定することができます。このアセットは、テスト条件、データ分析、結果、および簡単にインポートおよびエクスポートできるデータログを使用して、測定レプリケーションも可能です。構成は管理データベースに保存され、以前のテストをすばやく複製できます。2010MELは、電子部品およびアセンブリの最終試験および分析のための強力で汎用性が高く、費用対効果の高いソリューションです。堅牢な設計、拡張性、直感的なユーザーインターフェースにより、幅広いアプリケーションでミッションクリティカルな品質保証と信頼性試験に最適なモデルです。
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