中古 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / VERIGY / ADVANTEST E93000A #200662 を販売中

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/VERIGY/ADVANTEST E93000Aは、半導体ウェーハおよびデバイスの生産スループットと品質を最適化するために設計された最終試験装置です。このシステムは、製品開発と生産を通じてチップおよびその他のコンポーネントについて自動テストを実行し、すべての要件を満たしていることを確認します。その高度な設計により、サンプルのスループットが高く、小型であるため、最終的なテスト作業に最適です。HP E93000Aは、1214mm （0。5インチ）までの部品で、1秒あたり最大300ピン/接点をテストすることができます。これにより、通常は最大64ピン、さらには128ピンまたは接点を必要とする最新の半導体設計に最適です。高速デジタルおよび高速混合信号テストを含む高度な信号整合性ツールを備えています。このユニットは、プロセッサ、アプリケーション固有集積回路（ASIC）、フィールドプログラマブルゲートアレイ（FPGA）など、さまざまなデバイスタイプをテストすることができます。それは4つの異なったテスト部屋で作動する4つの独立したテスターの力を高容量生産で可能な限り最高の質を保障するために結合します。このマシンは高度に自動化されており、デバイスのテストヘッドへの自動ロードとアンロード、および高度なアルゴリズムと診断ソフトウェアによって保証されたテストレシピの開発と精度があります。VERIGY E93000Aは、テスト機能に加えて、テスト中のデバイスをデバッグするためのさまざまな診断技術も提供しています。これらには標準ベースのフォルトローカリゼーション技術が含まれており、テスト項目のハードウェア障害を迅速に検出および診断することができます。このツールはまた、リアルタイムテスト分析（RTA）ソフトウェアも提供しています。このソフトウェアは、現在および過去のデータを統合して、時間の経過とともにテストデバイスのパフォーマンスについて深い洞察を提供します。ADVANTEST E93000Aはまた、複数のスループットモードを提供し、ユーザーは個々のアプリケーション要件に基づいてテストシステムを最適化することができます。これには、入力出力パスとシーケンスが最大スループットに最適化された高速テストモード、およびデバッグとテスト分析のより多くの時間を提供する低速テストが含まれます。全体として、HEWLETT-PACKARD E93000Aは、さまざまなデバイスタイプをテストできる高度な最終テスト資産です。独自の機能セットにより、自動テスト、デバッグおよび分析技術、複数のスループットモード、および1つのテストチャンバー内で動作する4つのテスターの組み合わせを提供し、最高品質のウェーハとデバイスが生産されます。