中古 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / VERIGY / ADVANTEST 93000 C200e #156481 を販売中

ID: 156481
ヴィンテージ: 2003
Tester ACCRETECH / TSK UF 190A prober Standard TSK Hot chuck, 35-150 degrees Automatic probe-pad alignment Probe mark inspection Multi-site 3-64 channels probing GP-IB interface Fail-mark inspection Off-site marking Automatic probe height setup Sample sort capability Soak time Multi-pass probing Dual alignment model by prober kind Binary Data Transmit Bump height Rectangular probe card holder Includes: Clock board AC/DC board (2) DC/DC board Control board PoGo segment 512 pin soc Linux workstation Switch Box 93000 Controller System type: SOC Test head: small DUT I/F: SOC P600 16 Pin C200E 368 Pin Vector memory: ch10101-10116 112M P600 ch10201-12416 28M C200E TIA E9690 WDA E9684 WDB E9686 WGC E9689 WGB E9688 MCA E9714 (AV8 board) WGA E9685 DPS GPDPS 16 ch 2003 vintage.
AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/VERIGY/ADVANTEST 93000 C200e Final Test Equipmentは、集積回路(IC)および混合信号コンポーネントのテスト用に設計された自動高速テストシステムです。高度なC200eデジタルプロトコル、自動化されたモジュールと機器制御、インサーキットスキャンチェーンデバッグおよびプログラミング機能、IC開発、生産、検証段階での生産性を向上させるための複数のオペレータインターフェースオプションを備えています。HP 93000 C200e Final Test Unitは、低コストのロジックチップや複雑な産業制御からMEMやプロセッサまで、幅広いコンポーネントで動作します。VERIGY 93000 C200e Final Test Toolは、自動化された機械と機器制御により、各チップのレジスタと入力にアクセスし、各チップにテストコマンドを書き込むことができます。また、単一のテストプログラムを使用して、x86、 ARM、 MIPS、 PowerPC、 DSP、 FPGAなどの複数のプラットフォームアーキテクチャをサポートすることもできます。AGILENT 93000 C200e Final Test Assetは、各チップのデジタルおよびアナログの動作とパラメータをすばやく調べることができ、チップの機能を完全に把握することができます。さらに、HEWLETT-PACKARD 93000 C200e Final Test Modelは、低消費電力テスト、マルチレベルテスト、SCANデバイス、エミュレーションなど、さまざまなテスト技術を提供します。また、DIC (Digital Imaging Correlation)ソフトウェアを使用してICを分析および特性評価し、高速プログラムジェネレータはさまざまな性能関連レベルのテストプログラムを構築できます。さらに、ユーザー主導のテストシーケンシングオプションにより、ユーザーは特定の要件に基づいてテストを最適化できます。ADVANTEST 93000 C200e Final Test Systemは、ICのテストに加えて、詳細なテスト履歴、レポート、故障データを生成することができ、エンジニアは問題のあるICやその他の欠陥を正確に識別することができます。このデータは、信頼性を高めるためにテスト手順をすばやく変更して改善するためにも使用できます。全体として、93000 C200e Final Test Unitは、集積回路やその他のコンポーネント向けの高度で包括的なテストソリューションです。自動化された機械と機器の制御、高度なテスト技術、包括的な分析機能により、エンジニアは設計上の欠陥やエラーを迅速に特定して最適化し、信頼性の高い包括的なテスト結果を提供します。
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