中古 ADVANTEST T 6671E #9179759 を販売中

ADVANTEST T 6671Eは、幅広い半導体アセンブリおよび最終試験アプリケーションで使用するために設計されたハイエンドの高度な自動試験装置（ATE）です。柔軟性と信頼性を考慮して設計されたT 6671Eは、高度な技術を活用して、効率的で正確で使いやすいテストプラットフォームを提供します。ADVANTEST T 6671Eのマルチチャネルアーキテクチャは、8つの独立したグループと1グループあたりの4Kビット（8K拡張）メモリを組み合わせ、合計32Kビットサイトを提供します。また、チャネル制御とシーケンシング、複数のロジック比較機能、タイミングとパルスパラメトリック、チップレベルのセルフテスト、分析機能を備えた多機能テストフロントエンドも備えています。高度なATEとして、T 6671Eはまた、組み込みユーザーインターフェイス（UI）を備えた組み込みプロセッサベースのプラットフォームを提供しており、非常に複雑なソフトウェアアルゴリズムと一連のハードウェアコンポーネントを混在させています。このUIは、テスト計画、シーケンシング、プログラミングのための完全に機能的で使いやすいグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を備えています。また、アセンブリのテストとデバッグのための包括的なデータテストと測定機能も提供します。ADVANTEST T 6671Eは、高水準のテストアプリケーション向けに、JTAG拡張機能を使用して拡張テスト機能を提供します。これにより、オンボードメモリ、レジスタビット、および周辺IOへの直接アクセス、および外部TDOおよびTMIアクセスのサポートが可能になります。最終テストアプリケーションに関しては、T 6671Eには幅広いフォルトカバレッジ機能が装備されています。その自己テストモード（STM）は、メモリテスト、ビットエラーレートのテスト、および組み込みスキャンテストをサポートしています。エラー検出実験（EDC）は、混合（MST）とシングルビット（SBT）、マルチキューブ分布（MCD）の4チャンネルの同時テストをサポートします。最後に、ADVANTEST T 6671Eは、GP-IB、 Ethernet、およびシリアルインターフェイスのサポートを通じて柔軟性と接続性を強化し、外部システムとの統合を可能にします。要するに、T 6671Eは、アプリケーション領域の範囲のために設計された強力で信頼性の高いATEシステムです。堅牢なプロセッサベースのアーキテクチャ、JTAG拡張機能、フォルトカバレッジ機能、および幅広い接続オプションにより、エンジニアと技術者は、最終テストアプリケーション向けの高度で使いやすいプラットフォームを提供します。