中古 ADVANTEST T 6563 #9311730 を販売中

ADVANTEST T 6563は、高速半導体デバイスの大容量テスト用に設計された多機能、マルチサイト、最終試験装置です。この汎用性の高いシステムには、柔軟なインターフェースが含まれており、1つのユニットから複数のデバイスへのマルチサイトテストが可能です。その高度な技術により、最高の試験基準を満たすことができ、高速で再現性があり信頼性の高い試験結果を得ることができます。T 6563マシンはマルチサイトアーキテクチャを使用して、1つのテストインターフェイスで最大4台のデバイスを同時にテストできます。このマルチサイトアーキテクチャは、各テストインターフェイスに同期および非同期インターフェース制御を提供する独立したコントローラのツールを利用しています。これにより、テストに対する高度な制御が可能になり、より小さなテストサイトでは、より大きなシステムでも同じ結果を達成することができます。ADVANTEST T 6563には、正確なテスト結果を保証するための多くの高度な機能が含まれています。タッチスクリーンインターフェイスが内蔵されており、ユーザーフレンドリーな操作体験と簡単なプログラミングのためのQuick User Interface （QUI）を可能にします。また、テスト前のパターンの自動生成や、さらなる分析のためのリアルタイムのデータ取得とロギングも含まれています。T 6563アセットは、最先端のDRAMおよびSRAMからハイエンドのプログラマブルロジックデバイスまで、さまざまなデバイスをテストできます。最大65MH/sの試験速度を提供し、14ビット分解能を提供できる高精度の試験精度を提供します。さらに、このモデルはオンラインテストパラメータのダウンロードを提供し、効率的なテストデータ管理を可能にします。さらに、ADVANTEST T 6563は、可能な限り最高の試験精度を保証するために、幅広いプローブカードを提供します。カスタムデバイスのために、フレキシブルカードマウント装置は、さまざまな基板およびパッケージタイプのテストを可能にします。T 6563はまた、セットアップなしのプロービング機能を提供し、テスト時間と関連コストを削減します。ADVANTEST T 6563は、高速、大容量の最終試験アプリケーション向けの効果的で信頼性の高いソリューションです。その高度な機能により、マルチサイトアプリケーションに理想的なソリューションとなり、幅広いデバイスをテストできるため、非常に柔軟性とコスト削減が可能になります。