中古 ADVANTEST T 6373 #293751834 を販売中

ADVANTEST T 6373は、デバイスパラメトリック試験用に設計された高性能の最終試験装置で、業界をリードする性能、コスト効率、生産性を提供します。最適化されたテスター設計、高速化、最大並列化により、ADVANTEST T6373は、以前のシステムと比較してテストスループットを大幅に向上させることができます。このシステムは32ビットRISC CPUをベースにしており、200を超えるパラメータを採用しており、柔軟なテスト構成と幅広いテストシステムのサポートを提供しています。3軸試験技術を活用することで、優れた精度と再現性を維持しつつ、試験期間を大幅に短縮できます。テストサーバとローカルデータストレージシステムの両方で優れたデータ通信機能を提供します。このマシンには、オンボードクロックユーティリティ、シグナルジェネレータ、スイープ制御、カウンタ/タイマー制御など、高度に開発されたテスト機能のライブラリが装備されています。さらに、このツールは、SDRAMの128Mbitを備えた埋め込み型の長期メモリを提供し、1万枚以上の画像を保存して歩留まり分析と資産管理を行います。T 6373は、手動と自動の両方の治具で動作するように設計されており、ユーザーはパラメトリック試験結果を正確に表示しながら、さまざまなタイプのボードと治具をすばやく接続できます。また、複数のテストプログラムを同時にロードできるように設計されており、スループットの向上とモニタ性能の向上を実現しています。信頼性の面では、独立した突入制御を備えた強化電源、内蔵の電圧および温度センサ、アクティブEMI制御フィルタ、安全で信頼性の高い動作を保証する低いファン速度など、多くの機能が装備されています。さらに、システムで幅広いテストカードを使用して、テスト能力をさらに拡大することができます。費用対効果の高い運用を確保するために、T6373はテストのセットアップを簡素化し、無駄を削減する多数のワンプッシュテスト機能をサポートしています。また、テストプロセスの手動セットアップと自動開始のための使いやすいインターフェイスも提供しています。ADVANTEST T 6373は、信頼性の高い強力な最終試験ユニットで、デバイスパラメトリック試験に幅広い機能を提供します。最適化されたテスター設計、高速化、最大並列化により、試験期間を短縮し、優れた精度と再現性を提供します。さらに、使いやすいインターフェイスと幅広いテストカードを提供し、テスト能力をさらに拡大します。