中古 ADVANTEST T 6372 ND2 #293615283 を販売中

ADVANTEST T 6372 ND2は、半導体ICおよびディスクリート部品の高速検査用に設計された汎用ベンチ型の最終試験装置です。このシステムは、生産試験、製品特性評価および測定、故障解析、研究開発作業など、幅広いテストおよび分析機能を提供します。このユニットは、集積回路、マイクロプロセッサ、メモリデバイス、およびその他の電子部品の自動テストおよび分析のために、さまざまな特殊プローブおよび標準電圧または電流源、ならびに特殊RFデバイスを装備することができます。このマシンは高速コントローラを備えており、試験対象者への迅速なI/Oアクセスを可能にし、迅速な試験時間を可能にし、試験スループットと効率を向上させます。このツールはまた、精密サンプリングと処理を備えており、正確な結果を得ることができます。また、高精度な測定のための速度と精度オプション、複雑なマルチパーツデバイスを分析するための複数のDUTとUUTサポートも備えています。さらに、このアセットは、ディスクリートデジタル、DC連続、周波数領域、パルス変調などのさまざまな出力モードでのデジタルおよびアナログ試験に対応しており、パルス解析およびトラッキング、ロジックオシロスコーピーおよびロジックアナライザ機能を利用できます。T 6372 ND2には強力なプログラミング言語（Common Test Language）も含まれており、ユーザーはカスタマイズされたテスト構成を作成することができます。これには、外部計器制御、リモートテスト実行、およびバッチテスト機能が含まれます。この装置は、最も厳しい環境基準を満たすように構築されており、最も過酷な条件での試験の信頼性と精度を確保するために温度制御チャンバーを装備しています。さらに、ADVANTEST T 6372 ND2には、本番ソフトウェアと、デバッグ、トラブルシューティング、フォルトアイソレーションの実行のためのリアルタイムデバッグスイートの両方が含まれています。T 6372 ND2は集積回路、ディスクリート部品および他の電子部品の高速、精密テストのために設計されている広範囲の、ユーザーフレンドリーなテストシステムです。その機能は、生産テストおよび特性評価要件を満たすための堅牢なテスト機能を提供し、高度な故障解析、研究および開発作業に必要な柔軟性を提供します。このユニットは、最も厳しい環境基準を満たすように構築されており、高速テストアプリケーションの効率的で信頼性の高い正確な試験性能を提供します。