中古 ADVANTEST T 6361 #158516 を販売中
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ADVANTEST T 6361は、半導体テストソリューションプロバイダーであるADVANTEST Corporationが開発した最終試験装置です。このシステムは、シングルデバイスのテストからユニットテストソリューション全体に至るまで、フルスイートのテストカバレッジを提供します。汎用ICから高度なプロセスノード、マルチコアSoCまで、半導体製品を効果的にテストするために使用されます。Vectorless、 Tool-on-Chip (SoC)の診断と特性評価、ガードバンド解析、フラッシュプログラミング、マイクロ波装置のテスト、表面実装、スルーホール、無線周波数、タイムドメイン、およびパワー/ロジック測定など、さまざまな測定プログラムをサポートしています。これにより、大量生産環境に適しています。T 6361はまた、デジタル機器、サンプリングオシロスコープ、デジタルマルチメーター、ノイズ解析機器、パルス機器を組み合わせた、卓越した速度、精度、柔軟性をテストソリューションに提供します。さらに、このアセットは、デジタル信号解析、パラメータ抽出、故障解析などのさまざまなソフトウェアツールへのアクセスをユーザーに提供します。ソフトウェアツールは、特定のデジタルコンポーネントおよび集積回路(IC)が適切に動作し、設計および品質基準を満たしていることを確認するために装備されています。ADVANTEST T 6361モデルには、拡張性の高いハードウェアプラットフォームが装備されており、増大するテスト要件と、パターンジェネレータやデジタル/アナログのテストポイントなど、さまざまな高速ソリューションをサポートします。テストのセットアップと構成パラメータを自動化することで、面倒な手動測定が不要になり、テストのダウンタイムが短縮されます。さらに、システムのオンサイト診断およびメンテナンス機能により、外部リソースを必要とせずにオフライン環境で使用できます。全体として、T 6361 Final Test Unitは半導体製品の大量生産試験のための信頼性が高く効率的なソリューションです。柔軟性が高く、優れた速度と精度を提供します。さらに、このマシンには、重要なパラメータを分析し、潜在的な欠陥を特定するためのいくつかのソフトウェアツールが含まれています。汎用ICから先進プロセスノード、マルチコアSoCまで、さまざまな半導体部品の試験に適しています。
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