中古 ADVANTEST T 5781ES #9081300 を販売中

ADVANTEST T 5781ESは、高密度で低コストのデジタル化された製品をサポートするために、さまざまな試験タイプを提供するように設計された最終試験装置です。ロジックテスト、タイミングテスト、パラメトリックテストなど、さまざまなテストメソッドをサポートする統合プラットフォームにより、システムはテストプロセスを合理化し、成果を向上させて製品をより迅速に市場投入できるように設計されています。ADVANTEST T5781ESは、900から3,600MHzまでのサイクル時間を持つ高速ロジックテストを提供します。LQS （Low-Quantity Unit）構造とインラインレイアウト構造を組み合わせ、高帯域幅テストを迅速かつ正確に実行するための複数のツールを備えたテストマシンを作成します。LQS構造は、ロジックとタイミングテストプログラムの両方を含む少数のマルチプロセッサコアを使用します。これにより、テストが迅速に行われ、より小さなテストスペースを使用できるようになり、テストコストが削減されます。統合タイミングテストは、最大4GHz以上の速度を可能にするツールクロック上で動作します。これにより、信号をはるかに速い速度で伝送することができ、試験結果の速度と精度の両方を向上させます。タイミングテストは、資産パフォーマンスを分析し、複数の信号間のタイミングを迅速に分析するように設計されています。T 5781ESにはパラメトリックテストも装備されており、パフォーマンスの向上と、指定された周波数範囲内のパラメータの完全な分析を可能にします。これらのテストは、デバイスにゲイン、ノイズ指数、変換比、およびその他のパラメータが指定されているかどうかを判断するためによく使用されます。パラメトリックテストは、単一のモデルでさまざまなRFデバイスをテストするために特に有用です。T5781ESは、高度なSiP、 WLCSP、 MEMSなど、さまざまなデバイス技術をサポートするように設計されています。また、多種多様なデバイス用途に対応した5ナノメートル分解能を提供しています。この高解像度テストは、複雑で低オーバーヘッドの製品設計をサポートし、テスト精度の向上と高い歩留まりを実現します。全体として、ADVANTEST T 5781ESは、さまざまな試験タイプをサポートし、新しいデバイス技術をサポートする強力な最終試験装置です。統合された高速ロジックおよびタイミングテスト、ならびにパラメトリックテストにより、非常に複雑な製品をテストするための効率的で費用対効果の高い方法を提供するように設計されています。このシステムはテストコストを削減し、より速く市場に彼らのプロダクトを得ようとするあらゆる製造業者のための優秀な選択です。