中古 ADVANTEST T 5771 #9133771 を販売中

ADVANTEST T 5771 Final Test Equipmentは、完全に自動化されたマシンビジョン対応テストシステムで、消費者や産業用電子機器に正確で効率的なテストソリューションを提供するように設計されています。このユニットには、自動テストパターン生成（ATPG）ライブラリ、温度測定機（TMS）、高速データダイオードとトランジスタ用のRx/Tx Testingスイートなど、さまざまな機能が組み込まれています。エレクトロニクス業界で最も厳しい要件を満たすように設計されており、jEDEC JESD22-B119規格をはじめ、環境、安全、信頼性に関するさまざまな要件に準拠しています。T 5771は、テスト設定/パラメータ値の柔軟な制御、ステーション設定、多言語の使用などのカスタマイズ可能な機能を備え、直感的な操作のための高度なユーザーインターフェイスを備えています。また、より広い周波数範囲（最大8GHzなど、業界標準の要件を超える測定機能も提供しています。特定の条件の下で）および容易に交換可能である工具部品の大部分。自動テストパターン生成ライブラリは、効果的な操作をさらに容易にし、ダウンタイムを最小限に抑えます。それは直感的な3段階のプロセスを含んでいます；これにより、ユーザーはテストを生成し、境界スキャン機能を備えたライブラリ内のパラメータをすばやく変更できます。温度測定アセット（TMS）を使用すると、正確な熱分析、温度測定、アラームおよびインジケータ、およびテストサイクルの概要を提供して、さらなる分析が可能になります。高速データダイオードとトランジスタ用のRx/Txテストスイートは、RxとTxの両方のテストで最大400MHzおよび1Gbpsの範囲を提供します。DUTプログラマビリティと独立したクローズドループ・フィードバック制御を備え、正確で再現性のある試験結果を保証します。ADVANTEST T 5771 Final Test Modelは、SRAM、 NOR/NAND/STBSフラッシュメモリ、SDR、 DRAM、 AC/DCモーター/ドライブコントロールスイッチ、リニアスイッチなど、幅広い種類のデバイスの専用テストも実行できます。また、ICとPCBの両方のテスト用に複数のスイートを備えており、幅広いアプリケーションに対応する柔軟な構成オプションを備えています。最高レベルの品質を確保するために、機器は自己校正モードで動作し、FOCUS TQMやMRBKなどのさまざまなトレーサビリティ基準に従って動作します。また、UL 1995、 UL 1961、 EN 50499、 ISO 9001：2015などのさまざまな業界標準に準拠しており、さまざまな試験要件に対応する信頼性の高い堅牢なシステムとしての評価をさらに強化しています。