中古 ADVANTEST T 5723 #9177972 を販売中

ADVANTEST T 5723 Final Test Equipmentは、さまざまな集積回路（IC）デバイスをテストするために開発された、効率的で信頼性の高い自動テストシステムです。このユニットは、DRAM、 SRAM、フラッシュメモリ、ロジックIC、 CPLD、 FPGA、およびその他の複雑なICなどの大規模集積回路に包括的な「高速、最終テスト」を提供するように設計されています。幅広いテストパラメータをサポートし、高速で複数のデバイスを同時にテストできます。このマシンは、日常的なテストまたはより複雑なレベルを必要とする可能性のある忙しいICテスト環境に、費用対効果が高く、操作が簡単で柔軟なソリューションを提供します。個々のニーズに合わせて拡張可能で、ほとんどのICアーキテクチャに簡単に適応できます。このツールは、複数のテストヘッドとエレクトロニクスユニットを使用して、最終テストに柔軟性と効率性を提供します。アセットごとに130台のテスターをサポートし、複数のシステムを連携させて高速テスト機能を向上させることができます。テストモデルは、機器のテストを容易にするために、さまざまなオプトエレクトロニックインターフェースモジュールでも利用できます。T 5723には、データ集中ワークフローなどの強力な機能が搭載されており、テストパラメータの微調整を最大限に行うことができ、ユーザーは希望するテスト結果を迅速かつ正確に見つけることができます。自動化されたセットアップにより、より迅速かつ正確なテスト開発が可能になり、強力なデジタルパターンジェネレータ（DPG）により、複数のデバイスの同時高速テストが可能になります。システムにはいくつかのテストライブラリが内蔵されており、テストされるデバイスの種類を自動的に検出できます。ADVANTEST T 5723にはAdvanced Measurement Analysisソフトウェアも含まれており、ユーザーにリアルタイムのデータと分析機能を提供します。T 5723 Final Test Unitは、さまざまなアプリケーションに適した信頼性が高く、費用対効果が高く、ユーザーフレンドリーな自動試験機です。高速テスト機能を備えた信頼性の高いテストソリューションと、さまざまな自動機能とテストライブラリを提供し、ユーザーがテストをカスタマイズできるようにします。このツールは、ほとんどのICアーキテクチャに合わせて簡単に設定でき、正確で信頼性の高い結果を得るための柔軟な方法を提供します。