中古 ADVANTEST T 5593 #9123621 を販売中

ADVANTEST T 5593は半導体産業で使用される最終試験装置です。IC（集積回路）などの半導体デバイスの試験に使用されます。それに顧客の特定のテストの必要性を満たすために速く、容易な再構成を可能にするモジュラー設計があります。ADVANTEST T5593は、最大4096ピンの高ピン数を処理でき、Logic、 Timing、 functional、 parametric testingなどの幅広いテストを実行できます。高性能計算ユニット、超高速信号処理のための高速光I/O、アナログおよびデジタル信号用の16ビットI/Oインタフェースを内蔵しています。T 5593は、高速自動プログラミングのための「テストボール識別」を備えたオンザフライのテストプログラム開発を提供します。パラメトリック測定用の高速ダイレベル曲線トレーサと、高度な故障診断用のステートアナライザが含まれています。また、MDA （Motion Detection Algorithm）を内蔵し、バックグラウンドノイズを最小限に抑えた高周波信号パターンのテストも可能です。また、T5593は、診断精度を向上させるための高速データクリーニング技術を導入することもできます。メモリテストには、DRAM、 Flash、 EEPROM、およびその他のメモリデバイス用の個別のテストステーションが装備されています。このユニットは、複数のバンクのセルの挙動を同時に分析できる高度なメモリテスターを備えています。メモリテスターは、高度なパターン解析アルゴリズムを使用した加速テストにも対応しています。ADVANTEST T 5593は、SO、 TQFP、 PQFP、およびその他のICパッケージ用のさまざまなICテストソケットを備えたインプロセステストもサポートしています。さらに、ICTおよびFMDプロトコルを使用した包括的な診断ソリューションを可能にします。また、高度なSPC （Statistical Process Control）テストと回帰解析を組み込み、傾向と歩留まりの改善を検出します。ADVANTEST T5593は、総合的なICテスト機能を幅広いデバイスに提供する強力で汎用性の高いテストプラットフォームです。製品に信頼性の高い高性能な最終テストソリューションを必要とする企業に最適です。