中古 ADVANTEST T 5593 #9123594 を販売中

ADVANTEST T 5593 Final Test Equipmentは、半導体デバイスの生産統合に特化した統合テストソリューションです。高速IOテスト機能と優れたプログラマビリティと柔軟性を兼ね備えており、複雑な半導体デバイスの正確なテストを保証します。また、今日のデバイスのテスト能力、スループット、サポートを最大化するための包括的な高度な機能も提供しています。ADVANTEST T5593は正確なテスト結果を可能にするために正確に調整されたプログラム可能性および柔軟性が装備されています。マルチポート54ピンインターフェイスを備え、高いピン数と幅広い接続タイプの部品に対応します。さらに、T 5593は複数のプログラミングプロトコルやテストアルゴリズムを含む複数のプログラムオプションを提供します。これにより、ユーザーはより高い精度と短いテスト時間でデバイスをプログラミングする柔軟性が得られます。このユニットには、マルチチップテストとTDT （Total Device Test）の高速化のための階層ネットワークテストのフルサポートが含まれています。T5593は、最大1。3 Gb/秒のデータスループットと最大400 MHzの高速テスト用に設計されています。複数のarb/forceトリガとメモリコントローラ機能を備え、今日の複雑な部品に洗練されたテストソリューションを提供します。マシンはまた、スキャン、境界スキャン、機能テスト機能のフルレンジを提供します。ADVANTEST T 5593は、テスト効率と信頼性を向上させるために開発された強力な機能を備えています。テストモニターと自動テストアプリケーション（ATA）を内蔵しており、テストスケジューリングとデバッグを簡素化します。さらに、マルチチャンネルシーケンサーは、自動テストプログラムに柔軟なコンパニオンを提供します。また、IEEE 1149。1互換のソースドライバも提供しており、最大16チャネルのデータ収集操作を可能にします。このツールは、拡張性と将来の準備性を提供するモジュラーアーキテクチャを備えています。このアセットは、デバイスの進化に応じてアップグレード可能なアルゴリズムと機能の面で拡張可能です。これには、外部システムとの簡単な接続を提供するホストインターフェイスが含まれています。ADVANTEST T5593はまた、アプリケーションの最大数のための広範なランタイムとメモリリソースを提供しています。T 5593 Final Test Modelは、次世代の半導体デバイス向けの効果的な高密度試験ソリューションです。これは、正確なピンレベルの障害検出、高速IOおよびメモリのサポート、優れたプログラマビリティと柔軟性を提供する強力な統合テストソリューションをユーザーに提供します。モジュラーアーキテクチャと包括的な機能を備えたT5593は、テストカバレッジを最適化し、コストを削減し、競争力のある市場でのパフォーマンスを向上させるための理想的なソリューションです。