中古 ADVANTEST T 5593 #9123533 を販売中

ADVANTEST T 5593は、要求の厳しい顧客要件を満たすために集積回路（IC）をテストするために設計された最終試験装置です。このシステムは、ICテストを成功させるための最新の技術と機能を備えています。ADVANTEST T5593には、包括的な半導体データテストを可能にするさまざまなコンポーネントが含まれています。ユニットの中心には、高度な信号調整技術があります。この技術は、周囲温度、容量、インダクタンス、電圧、電流などの物理的および環境的パラメータを補償することにより、最適な信号整合性を保証します。さらに、信号調整技術は、上昇時間、パルス幅、オーバーシュート、アンダーシュートなどの高速信号測定を行うことができます。これにより、高精度で再現性のあるデータ測定が可能になります。機械は自動テストプログラム生成機能が装備されています。この機能により、構成設定やユーザーの要件に基づいて、ICテストプログラムを自動的に作成および実行できます。また、ユーザーはインタラクティブコントロールを使用してテストパラメータをカスタマイズし、迅速な自動テストを可能にします。T 5593は堅いテスト条件を満たすように設計されています。それはいろいろ組み込みおよびユーザー選択可能なテスト限界および条件が装備されています。これらにより、アセットはさまざまな潜在的なIC故障モードを識別することができ、ユーザーは高品質とパフォーマンスの標準を保証することができます。包括的なテスト機能に加えて、T5593には幅広いデータ収集ツールが装備されています。これには、FFTアナライザ、タイムドメインアナライザ、ロジックアナライザ、任意波形発生器、デジタル電圧計、温度チャネルが含まれます。データ収集ツールにより、幅広い条件でIC性能を自動的にテストおよび分析できます。最後に、このモデルは高度な通信機能を備えて設計されています。これにより、他の機器とのデータ交換が可能になり、効率と経済性が向上します。この通信サポートには、イーサネット、GPIB、およびUSBのサポートが含まれます。全体として、ADVANTEST T 5593は、効率的で正確で包括的な半導体データテストを可能にする業界をリードする最終試験装置です。このシステムは、ユーザーに比類のないICテスト性能を提供するための最新の技術と機能が満載されています。その使用は厳密な顧客の要求を満たす良質ICを保障します。