中古 ADVANTEST T 5592 #163116 を販売中
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ID: 163116
Memory tester
CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration)
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION: (1 Test Head with Full Configuration)
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
PIN CONFIGURATION 1. 144DR+192I/O
2. 288DR+384I/O
3. 576DR+768I/O [1,2,3] ...........> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ......................................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE1 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD A/B/C/D ..........> YES
PE2 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD A/B/C/D ..........> YES
PE3 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56) CHILD A/B/C/D .........> YES
PE4 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD A/B/C/D ......> YES
PE5 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE6 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD A/B/C/D ..> YES
PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD A/B/C/D? .> YES
PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD A/B/C/D? .> YES
PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD A/B/C/D .> YES
PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D.> YES
PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD A/B/C/D .> YES
PE13 (1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52) CHILD E/F/G/H .............. YES
PE14 (7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54) CHILD E/F/G/H? ..........> YES
PE15 (13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .......> YES
PE16 (65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116) CHILD E/F/G/H ......> YES
PE17 (71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H......> YES
PE18 (77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120) CHILD E/F/G/H ......> YES
PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244) CHILD E/F/G/H ..> YES
PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246) CHILD E/F/G/H .> YES
PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248) CHILD E/F/G/H ..> YES
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS CONFIGURATION [1-128]......> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ..................................> 50
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..........................................> 4
ONFIGURATION OF PDS
NUMBER OF CYCLE PALETTE [8,16] ...........................> 8
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST[Y,N] ..........................................> YES
SIZE OF DBM BOARD [1-2] [1:256K? 2:1M] ..................> 2
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0,4,8] ...................................> 4
NUMBER OF AFM MODULE [0,8] ..................................> 8
SIZE OF AFM BOARD [1-2] [1:4M] 2:16M] .....................> 1.
ADVANTEST T 5592は半導体チップの最終試験装置です。HPC （High-Pin-Count）マイクロプロセッサ、メモリー、および多数のデータおよび電気テストピンを必要とするその他のデバイスのウェーハおよびデバイスレベル試験用に設計されています。T 5592システムは、迅速かつ効率的なテストプロセスを必要とするデバイスメーカーにとって素晴らしいソリューションです。ADVANTEST T 5592は、統合アーキテクチャを通じて総合的なテスト機能を提供します。このユニットには、MaximusソフトウェアとVectorStarハードウェアの組み合わせがあり、デバイスのテスト、インターフェイス、制御、結果分析を制御できます。Maximusソフトウェアは、最大32倍の並列テストを提供し、ユーザーはテスト時間とコストを削減できます。T 5592マシンの主な特徴の1つは、最大512ピンをテストできるスケーラブルな設計です。このツールは、高速I/Oおよび高分解能ADC機能を使用して、完全なパラメトリックおよび機能テストを可能にします。また、ウェーハレベルテスト用のプリテストモード、およびテストスループットを最大化するためのデバイスの交換、修理、特性評価など、複数のテストモードを提供しています。ADVANTEST T 5592は装置テストのための最高の検出の決断を提供し、最高の正確さおよび品質保証を支えます。データプラットフォームAsset-on-Chipテストには、高速テスト機能も備えています。また、高速テストアルゴリズムライブラリを内蔵しており、パワー、インピーダンス、およびその他の高速テストの高い並列性と迅速なテスト実装を可能にします。T 5592の主な利点は、反復可能で一貫した高品質の試験結果を提供することです。これは、デバイスメーカーがデバイステストの結果を信頼できることを意味します。このモデルはまた、設計や製造の変更に適応することができ、ハイエンドテスターに最適です。ADVANTEST T 5592は、統合されたアーキテクチャとスケーラブルな設計により、迅速かつ効率的なテストを提供し、デバイスメーカーが競争の激しい半導体テスト市場で前進するのを支援します。半導体デバイスの高品質・高精度試験に最適な装置です。
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