中古 ADVANTEST T 5592 #136077 を販売中

ADVANTEST T 5592
製造業者
ADVANTEST
モデル
T 5592
ID: 136077
Memory tester with M6751AD handler = /DIAG/G SYSTEM CONFIGURATION GENERATE CONFIGURATION OF TEST HEAD PIN CONFIGURATION 1.144DR+192I/O 2.288DR+384I/O 3.576DR+768I/O? [1,2,3] ...........> 3 NUMBER OF TEST HEAD? [1,2] ...........................> 2 CONFIGURATION OF TEST HEAD 1 PE1 ( 1 - 6 , 19 , 33 - 38 ,51 , 52 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE2 ( 7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE3 ( 13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE4 ( 65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE5 ( 71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE6 ( 77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE13 ( 1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE14 ( 7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE15 ( 13 - 18 , 21 , 45 -50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE16 ( 65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE17 ( 71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE18 ( 77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248 ) CHILD E/F/G/H .....> YES CONFIGURATION OF TEST HEAD 2 PE1 ( 1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE2 ( 7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE3 ( 13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE4 ( 65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE5 ( 71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE6 ( 77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248 ) CHILD A/B/C/D .....> YES PE13 ( 1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE14 ( 7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE15 ( 13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE16 ( 65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE17 ( 71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE18 ( 77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD E/F/G/H .....> YES PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248 ) CHILD E/F/G/H .....> YES CONFIGURATION OF DPU TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32 10V PPS CONFIGURATION [1-128] ......> 1-128 TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32 10V PPS CONFIGURATION [1-128] ......> 1-128 AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60 CONFIGURATION OF ALPG NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..............................> 4 ONFIGURATION OF PDS NUMBER OF CYCLE PALETTE? [8,16] ......................> 8 CONFIGURATION OF DBM DBM OPTION EXIST? [Y,N] ..............................> YES SIZE OF DBM BOARD? [1-2] [1:256K? 2:1M] ..............> 2 CONFIGURATION OF FM NUMBER OF FM BOARD? [0,4,8] ..........................> 0 END SAVE = /LOG OFF ADVANsite Software Product Information? 08-APR-2009 08:52:21 System Software : ASX/U-51 Version : 6.00A1 CPU Type : SPARC Product P number Revision [Expected] Date Label Title -------------------------------------------------------------------------------- ASXUBASE PASX51-92**** 2.03 [ ] 01-DEC-1989 ROOT SunOS Release 5.7 ATW51SU PASX51-92**** 6.00A [ ] 28-JAN-2002 ATLW51 ATLworks for T5500 Series DIAG5592SU PASX51-92**** 1.05B [ ] 15-MAY-2002 DG5592 Tester Diagnosis (T5592) ICD51SU PICD51-00**** 1.03 [ ] 02-NOV-2000 ICD51 ICD/U-51 One Line Compiler MPEDIT51SU PMPE51-00**** 1.02 [ ] 02-NOV-2000 MPE51 MPEDIT/U-51 Memory Pattern Editor SYSTEST51SU PASX51-92**** 6.00A1 [ ] 06-MAR-2002 SYST51 ADI/SYS TEST (T5581 Series) TESTUTL51SU PASX51-92**** 6.00A1 [ ] 06-MAR-2002 TUTL51 Tester Utilities (T5581 Series) WBMA51SU PWBM51-00**** 4.01 [ ] 31-JAN-2001 WBMA51 Workbench-M2 for T5500 Series (Analysis Tools) WBMW51SU PWTR51-00**** 4.01 [ ] 08-FEB-2001 WBMW51 Workbench-M2 for T5500 Series (WaveTracer2) XATL51SU PXTL51-00**** 5.04A [ ] 08-MAR-2001 XATL51 XATL/U-51 Cross Compiler.
ADVANTEST T 5592は、さまざまなデバイスでさまざまなテストを迅速かつ効率的に実行するように設計された最終試験装置です。デジタルロジック回路やアナログデバイスなど、さまざまなコンポーネントや機能を正確かつ自動的にテストできます。このシステムは、高速、デュアルステージテスト技術を採用しており、品質指向の性能を必要とする製品に迅速かつ正確なテストを提供するように設計されています。T 5592の中核には、その高度な試験技術があります。このユニットは、より正確な結果を保証するために、デュアルステージテストを使用しています。試験プロセスの最初の段階では、デバイスを検出して分析することができ、詳細な分析とインシデント応答を可能にします。テストの第2段階には、デバイスを迅速に検出、分析、比較できる並列アーキテクチャが含まれます。これは、迅速なテストとさらに高速な修正をもたらします。さらに、このツールは、コンポーネント情報の大規模なデータベースにアクセスすることもでき、さらなる分析と比較を可能にします。さらに、ADVANTEST T 5592は、完全なリモートアクセスとロギング機能を備えた強化されたGPRSテスト機能も提供します。GPRSテスト機能を使用すると、さまざまなGPRS製品を複数の段階のテストで迅速かつ正確にテストできます。また、リアルタイムグラフとチャートを使用して結果データを包括的に可視化し、デバイスのパフォーマンスを包括的に測定できます。T 5592のデュアルステージテストは、コンポーネントとモデルレベルの両方のテストを容易にし、パフォーマンスの最適化と品質管理を可能にします。この装置は、デバイス情報にリアルタイムでアクセスおよび分析できるため、製品開発に最適なソリューションであり、デバイスの設計と性能に関する貴重な洞察を提供します。さらに、このシステムは、デバイスの信頼性の高い動作と品質を確保するために、回路内および機能テストに使用することができます。全体的にADVANTEST T 5592は、複数の製品を正確かつ効率的にテストできる高度なテストユニットです。デュアルステージテスト、GPRSテスト機能、リアルタイムデータ分析により、製品開発および回路内テストに最適です。このマシンの性能最適化と品質管理機能により、さまざまなコンポーネントやデバイスの信頼性と正確な結果が保証されます。
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