中古 ADVANTEST T 5592 #136077 を販売中
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ID: 136077
Memory tester with M6751AD handler
=
/DIAG/G
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.144DR+192I/O
2.288DR+384I/O
3.576DR+768I/O? [1,2,3] ...........> 3
NUMBER OF TEST HEAD? [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE1 ( 1 - 6 , 19 , 33 - 38 ,51 , 52 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE2 ( 7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE3 ( 13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE4 ( 65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE5 ( 71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE6 ( 77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE13 ( 1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE14 ( 7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE15 ( 13 - 18 , 21 , 45 -50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE16 ( 65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE17 ( 71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE18 ( 77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE1 ( 1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE2 ( 7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE3 ( 13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE4 ( 65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE5 ( 71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE6 ( 77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE7 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE8 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE9 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE10 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE11 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE12 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248 ) CHILD A/B/C/D .....> YES
PE13 ( 1 - 6 , 19 , 33 - 38 , 51 , 52 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE14 ( 7 - 12 , 20 , 39 - 44 , 53 , 54 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE15 ( 13 - 18 , 21 , 45 - 50 , 55 , 56 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE16 ( 65 - 70 , 83 , 97 - 102 , 115 , 116 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE17 ( 71 - 76 , 84 , 103 - 108 , 117 , 118 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE18 ( 77 - 82 , 85 , 109 - 114 , 119 , 120 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE19 (129 - 134 , 147 , 161 - 166 , 179 , 180 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE20 (135 - 140 , 148 , 167 - 172 , 181 , 182 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE21 (141 - 146 , 149 , 173 - 178 , 183 , 184 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE22 (193 - 198 , 211 , 225 - 230 , 243 , 244 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE23 (199 - 204 , 212 , 231 - 236 , 245 , 246 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
PE24 (205 - 210 , 213 , 237 - 242 , 247 , 248 ) CHILD E/F/G/H .....> YES
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS CONFIGURATION [1-128] ......> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS CONFIGURATION [1-128] ......> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..............................> 4
ONFIGURATION OF PDS
NUMBER OF CYCLE PALETTE? [8,16] ......................> 8
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST? [Y,N] ..............................> YES
SIZE OF DBM BOARD? [1-2] [1:256K? 2:1M] ..............> 2
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD? [0,4,8] ..........................> 0
END SAVE
=
/LOG OFF
ADVANsite Software Product Information? 08-APR-2009 08:52:21
System Software : ASX/U-51
Version : 6.00A1
CPU Type : SPARC
Product P number Revision [Expected] Date Label
Title
--------------------------------------------------------------------------------
ASXUBASE PASX51-92**** 2.03 [ ] 01-DEC-1989 ROOT
SunOS Release 5.7
ATW51SU PASX51-92**** 6.00A [ ] 28-JAN-2002 ATLW51
ATLworks for T5500 Series
DIAG5592SU PASX51-92**** 1.05B [ ] 15-MAY-2002 DG5592
Tester Diagnosis (T5592)
ICD51SU PICD51-00**** 1.03 [ ] 02-NOV-2000 ICD51
ICD/U-51 One Line Compiler
MPEDIT51SU PMPE51-00**** 1.02 [ ] 02-NOV-2000 MPE51
MPEDIT/U-51 Memory Pattern Editor
SYSTEST51SU PASX51-92**** 6.00A1 [ ] 06-MAR-2002 SYST51
ADI/SYS TEST (T5581 Series)
TESTUTL51SU PASX51-92**** 6.00A1 [ ] 06-MAR-2002 TUTL51
Tester Utilities (T5581 Series)
WBMA51SU PWBM51-00**** 4.01 [ ] 31-JAN-2001 WBMA51
Workbench-M2 for T5500 Series (Analysis Tools)
WBMW51SU PWTR51-00**** 4.01 [ ] 08-FEB-2001 WBMW51
Workbench-M2 for T5500 Series (WaveTracer2)
XATL51SU PXTL51-00**** 5.04A [ ] 08-MAR-2001 XATL51
XATL/U-51 Cross Compiler.
ADVANTEST T 5592は、さまざまなデバイスでさまざまなテストを迅速かつ効率的に実行するように設計された最終試験装置です。デジタルロジック回路やアナログデバイスなど、さまざまなコンポーネントや機能を正確かつ自動的にテストできます。このシステムは、高速、デュアルステージテスト技術を採用しており、品質指向の性能を必要とする製品に迅速かつ正確なテストを提供するように設計されています。T 5592の中核には、その高度な試験技術があります。このユニットは、より正確な結果を保証するために、デュアルステージテストを使用しています。試験プロセスの最初の段階では、デバイスを検出して分析することができ、詳細な分析とインシデント応答を可能にします。テストの第2段階には、デバイスを迅速に検出、分析、比較できる並列アーキテクチャが含まれます。これは、迅速なテストとさらに高速な修正をもたらします。さらに、このツールは、コンポーネント情報の大規模なデータベースにアクセスすることもでき、さらなる分析と比較を可能にします。さらに、ADVANTEST T 5592は、完全なリモートアクセスとロギング機能を備えた強化されたGPRSテスト機能も提供します。GPRSテスト機能を使用すると、さまざまなGPRS製品を複数の段階のテストで迅速かつ正確にテストできます。また、リアルタイムグラフとチャートを使用して結果データを包括的に可視化し、デバイスのパフォーマンスを包括的に測定できます。T 5592のデュアルステージテストは、コンポーネントとモデルレベルの両方のテストを容易にし、パフォーマンスの最適化と品質管理を可能にします。この装置は、デバイス情報にリアルタイムでアクセスおよび分析できるため、製品開発に最適なソリューションであり、デバイスの設計と性能に関する貴重な洞察を提供します。さらに、このシステムは、デバイスの信頼性の高い動作と品質を確保するために、回路内および機能テストに使用することができます。全体的にADVANTEST T 5592は、複数の製品を正確かつ効率的にテストできる高度なテストユニットです。デュアルステージテスト、GPRSテスト機能、リアルタイムデータ分析により、製品開発および回路内テストに最適です。このマシンの性能最適化と品質管理機能により、さまざまなコンポーネントやデバイスの信頼性と正確な結果が保証されます。
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