中古 ADVANTEST T 5585 #9091986 を販売中
URL がコピーされました!
ID: 9091986
ヴィンテージ: 2004
Memory tester
Configuration of test head:
(2) Test heads
Configuration of DPU:
Test head 1:
DC Configuration: 1-64
PPS Configuration: 1-64,97-192,225-256
Test head 2:
DC Configuration: 1-64
PPS Configuration: 1-64,97-192,225-256
AC Frequency: 50 Hz
Configuration of ALPG:
ALPG: 2
Configuration of FM:
FM Board: 0
Core test:
Frequency: 250 MHz
Clock period: 4.0ns
Data rate: 500 Mbit/s
OTA: ± 400pS
Clk resolution: 15.6pS
Tester channel driver: 1536
Tester channel I/O: 1152
PPS: 64/ST(5 V / 0.8 A)
DCU: 64/ST(10 V ±80 mA)
Input voltage range: -3 V to +8 V
Output voltage range: 0.2 V - 8 V
Parallelism range: 64, 128, 256, 512
Handler: M6541,M6300
Product portfolio: SDR, DDR, DDR2, GDDR3
2004 vintage.
ADVANTEST T 5585は、多種多様なデバイスの最終試験用に設計された高速、マルチサイト、パラレルテスターです。品質、スピード、信頼性が不可欠な生産テスト環境に最適なソリューションです。ADVANTEST T5585は、複数のデバイスで同時に動作する高度なマルチサイト技術を組み込み、スループットを向上させます。この装置は、多くの商用および産業用アプリケーションで必要とされる大量生産試験を可能にするように設計されています。一度に最大16台のデバイスをテストすることができ、クロスサイトテストの最適化に大きな可能性を提供します。このシステムは柔軟な構成機能も備えており、さまざまなアプリケーションに合わせてカスタマイズすることができます。それはそれに接続されるさまざまなテストシステムおよびプログラム可能な論理コントローラーを支えます。I/O構成の幅広い選択も可能であり、より多様で複雑なテストプログラムを可能にします。T 5585の主な特徴は、その高度な設計であり、さまざまなタイプのデバイスの信頼性と一貫したテストを提供します。組込みプロセッサと独自のテストアーキテクチャは、マルチサイトテスト用に最適化されており、パフォーマンス劣化のない複数のデバイスを同時に処理できます。T5585にはプログラマブルシーケンスコントローラ(PSC)が含まれており、外部試験装置を必要とせずに複雑なテストルーチンを実行できます。また、操作者の作業負荷を簡素化し、簡単なセットアップを保証するユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えています。このマシンは高速測定および分析機能を備えており、多くのテストソフトウェアパッケージと互換性があります。ADVANTEST T 5585は信頼でき、一貫した結果の大量の生産のテストを達成するための優秀な解決です。その高度なアーキテクチャとマルチサイトテスト機能により、さまざまなアプリケーションに最適です。その柔軟性と直感的なユーザーインターフェイスは、テストの迅速なセットアップと実行を保証し、幅広いデバイスの生産テストのための強力で信頼性の高いソリューションを提供します。
まだレビューはありません