中古 ADVANTEST T 5581H #193492 を販売中
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ID: 193492
Memory Testers
Configuration:
CONFIGURATION OF TEST HEAD PIN CONFIGURATION
1.640DR+288I/O
2.960DR+288I/O
3.640DR+576I/O
4.960DR+576I/O [1-4] ............> 4
TH CABLE LENGTH 1.5M
2.8M [1,2] ......................> 1
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE 1.816CH
2.1600CH [1,2] .....................> 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-021633 (FULL PE)
2.BGM-021633X02 (I/O PE)
3.BGM-021633X03 (DR PE)
SLOT 33 36 39 161 164 167
CHILDA....>1 1 1 1 1 1
CHILDB....>1 1 1 1 1 1
CHILD C ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD D ....> 1 1 1 1 1 1
CHILDE....>1 1 1 1 1 1
CHILD F ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD G ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD H ....> 1 1 1 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
TEST HEAD TYPE 1.816CH
2.1600CH [1,2] .....................> 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-021633 (FULL PE)
2.BGM-021633X02 (I/O PE)
3.BGM-021633X03 (DR PE)
SLOT 33 36 39 161 164 167
CHILDA....>1 1 1 1 1 1
CHILDB....>1 1 1 1 1 1
CHILD C ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD D ....> 1 1 1 1 1 1
CHILDE....>1 1 1 1 1 1
CHILD F ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD G ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD H ....> 1 1 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS SPEC [1,2] (1:0.4A 2:0.8A) ......> 2
10V PPS CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
16V PPS CONFIGURATION [33-64] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............> 1-4
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS SPEC [1,2] (1:0.4A 2:0.8A) ......> 2
10V PPS CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
16V PPS CONFIGURATION [33-64] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............> 1-4
1'ST GPIB I/F BOARD 0.NONE
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] .........> 0
2'ND GPIB I/F BOARD 0.NONE
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] .........> 1
DMM TYPE 1.TR6861
2.R6871E
3.R6551
4.R6552T [1-4] .........> 4
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..............................> 2
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST [Y,N] ..............................> NO
SIZE OF DBM BOARD ....................................>
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0-4] ............................> 0
PATTERN MEMORY(PM) BOARD EXIST [Y,N] ................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA2/3 OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FCDC
PIN PATTERN OPTION [Y,N] ...........................> NO
PIN DRE OPTION [Y,N] ...........................> NO
PIN CPE OPTION [Y,N] ...........................> NO.
ADVANTEST T 5581Hは、電子デバイスの効率的な生産を可能にするように設計された高スループット、自動化された最終試験装置です。このシステムは、さまざまな自動試験装置（ATE）と完全に互換性があります。同時並列テスト機能と、異なるパッケージングニーズを持つデバイスの高精度テストを提供します。ADVANTEST T5581Hは、高速で信頼性の高いテスト結果を可能にする高性能プロセッサで構築されています。このユニットは、最大5,000 UPH （1時間あたりの単位）のスループットを備えており、さまざまなサンプルやICに対応できる広いテストエリアを備えています。さらに、このマシンの柔軟なモジュラーアーキテクチャにより、さまざまな構成で異なるパッケージングを持つさまざまなコンポーネントをテストすることができます。このツールには、測定精度コントローラが含まれており、試験結果の高精度と再現性を保証します。また、データ取得、分析、レポート作成、管理のための幅広い機能を備えています。パフォーマンスを確保するために、このアセットには、モデルのパフォーマンスと信頼性を最新の分析するための高度なツールとテクノロジーの標準セットも含まれています。T 5581 Hは、シンプルなパッシブから複雑なプロセッサまで、あらゆるタイプのデバイスを正確にテストできるよう、幅広い機能と測定パラメータをサポートしています。さらに、レイテンシーやその他のタイミング関連の効果をテストする際に正確な結果を保証するために、柔軟なタイミング制御および信号タイミングテストを提供します。さらに、ADVANTEST T 5581 Hは生産サイクルのあらゆる段階で最終製品をテストし、全体的な性能の詳細なレポートを提供することができます。これにより、最終製品の信頼性と一貫性が確保され、ビルドタイムが短縮されます。T5581Hは、開発時間の短縮、信頼性の向上、最小限のコストで自動テスト出力を向上させようとしているあらゆる企業に最適です。そのモジュラー設計、高スループット、および精度は、顧客に素晴らしい結果を提供することが確実です。
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