中古 ADVANTEST T 5581H #161564 を販売中
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ID: 161564
Memory tester
Includes (2) M6741A handlers
Configuration:
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.640DR+288I/O
2.960DR+288I/O
3.640DR+576I/O
4.960DR+576I/O [1-4] ............> 4
TH CABLE LENGTH 1.5M
2.8M [1,2] ......................> 1
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE 1.816CH
2.1600CH [1,2] .....................> 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-021633 (FULL PE)
2.BGM-021633X02 (I/O PE)
3.BGM-021633X03 (DR PE)
SLOT 33 36 39 161 164 167
CHILD A ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD B ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD C ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD D ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD E ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD F ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD G ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD H ....> 1 1 1 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
TEST HEAD TYPE 1.816CH
2.1600CH [1,2] .....................> 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-021633 (FULL PE)
2.BGM-021633X02 (I/O PE)
3.BGM-021633X03 (DR PE)
SLOT 33 36 39 161 164 167
CHILD A ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD B ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD C ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD D ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD E ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD F ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD G ....> 1 1 1 1 1 1
CHILD H ....> 1 1 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS SPEC [1,2] (1:0.4A 2:0.8A) ......> 2
10V PPS CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
16V PPS CONFIGURATION [33-64] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............> 1-4
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
10V PPS SPEC [1,2] (1:0.4A 2:0.8A) ......> 2
10V PPS CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
16V PPS CONFIGURATION [33-64] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............> 1-4
1'ST GPIB I/F BOARD 0.NONE
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] .........> 0
2'ND GPIB I/F BOARD 0.NONE
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] .........> 1
DMM TYPE 1.TR6861
2.R6871E
3.R6551
4.R6552T [1-4] .........> 4
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..............................> 2
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST [Y,N] ..............................> NO
SIZE OF DBM BOARD ....................................>
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0-4] ............................> 0
PATTERN MEMORY(PM) BOARD EXIST [Y,N] ................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA2/3 OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FCDC
PIN PATTERN OPTION [Y,N] ...........................> NO
PIN DRE OPTION [Y,N] ...........................> NO
PIN CPE OPTION [Y,N] ...........................> NO
1997 vintage.
ADVANTEST T 5581Hは、高性能で費用対効果の高い半自動半導体最終試験装置です。スループットの向上とターンアラウンドタイムの向上により、迅速で信頼性の高い高品質なテスト結果を提供するように設計されています。ADVANTEST T5581Hは、高速デジタルネットワーキングを備えた並列テストインターフェイスを含む、テスト効率のための最新の技術を組み込み、高度なデータ収集ツールと高度なテストプログラムのスイートと統合されています。このシステムは高い柔軟性と拡張性を備えており、特定のハードウェアとソフトウェアの構成に応じてさまざまな統合と接続性を備えています。優れた精度と再現性を実現するように設計されたT 5581 Hは、高速データ収集と解析機能を備えた強力で自動化されたテスト環境を提供します。テストプログラム作成プロセスは簡素化され、各テスト操作のユニークなニーズを満たすために素早くカスタマイズすることができます。また、お客様の仕様に準拠した高度なハードウェア技術を採用しています。T 5581Hは非常にカスタマイズ可能で、さまざまなテストニーズに対応するためにさまざまなテストパッケージがあります。このマシンの設計には、カスタムテストプログラムの作成、エッジとスキャントリガーモード、シリアルデータ通信、複数のDUT（デバイスアンダーテスト）およびデジタルI/Oによる制御機能のオプションがあり、ツールの柔軟性を高めています。このアセットには、スループットの向上とターンアラウンドタイムの向上も含まれています。これにより、迅速かつ効率的なテストサイクルが保証され、オーバーヘッドとテスト運用コストが削減されます。このモデルは複数の並列デジタルバスを使用しており、データパスとデジタルロジックを高速化し、信頼性の高い再現可能な結果を得る正確なテスト結果を提供します。また、使いやすいテストプログラミングツールと堅牢で直感的なユーザーインターフェイスを備え、優れた顧客体験を提供します。T5581Hは、電力、安全性、セキュリティのための複数のオプションが装備されており、安全で信頼性の高いテスト環境を確保します。これには、ファンレス動作、帯電防止保護、およびユーザーが電力パラメータをカスタマイズし、すべての顧客の要件を満たし、またはそれを超えてエネルギー効率を最大化することができる統合された電源システムが含まれます。ADVANTEST T 5581 Hは、正確な結果と効率を向上させるために設計された強力なユニットで、費用対効果の高い迅速なテスト実行のための完全なテストソリューションを提供します。このオールインワンマシンは、コスト効率が高く信頼性が高く安全なテストプラットフォームのために、最大限の柔軟性、拡張性、スピードを提供します。
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