中古 ADVANTEST T 5581 #9070719 を販売中

ADVANTEST T 5581は、集積回路やその他の高度な半導体コンポーネントのテスト用に設計された先進的な最終試験装置です。システムはメインフレーム、ユニットコントローラ、および複数のICテスターで構成されています。メインフレームは、最終テストに必要なすべてのコンポーネントを収容し、ICテスター用のプラットフォームを提供します。マシンコントローラは、エンジニアが必要とするすべてのテストステップのスケジューリングと実行を担当します。強力な制御プロセッサを内蔵しており、すべてのICテスターに接続されています。このプロセッサは、テストパラメータを制御し、必要なテストデータをICテスターに提供する責任があります。ツールコントローラには、テストの結果を格納するためのリアルタイムデータベースも含まれています。ADVANTEST T5581には、最新のICをテストするために設計された幅広いICテスターが装備されています。このアセットは、複数のチップ設計、低電力動作、および複数のゲート数を備えたICアーキテクチャを含む、基本的および複雑なICアーキテクチャの両方をテストすることができます。各最終的なテストICのテスターはいろいろなテストシナリオおよび変数とすべてのICがきちんとテストされることを保障するためにセットアップすることができます。T 5581は拡張可能なリソースを使用して、テストスループットとモデルパフォーマンスを最適化します。装置はより多くのテスターを支え、すべてのテストパラメータが満たされることを保障するために拡大することができます。スケーラブルな試験治具を使用することで、試験時間を短縮し、システム全体のスループットを向上させることができます。T5581は、IC内のエラーや障害を正確に検出および報告することができます。また、集積回路の追加や変更などの要因によって引き起こされる可能性のある隠れた障害を検出することもできます。また、グラフィカルユーザーインターフェイスを備えており、すべてのテストとIC構成を簡単に管理できます。ADVANTEST T 5581は集積回路のための高精度のテストおよび欠陥検出を提供するように設計されている高度機械です。このツールは、既存のテスト手順やアプリケーションプログラムに簡単に組み込むことができます。その拡張性により、小規模または大規模なアプリケーションスイートに適しており、包括的な故障検出機能により、高精度の最終テストシナリオに最適です。