中古 ADVANTEST T 5581 P #293636059 を販売中
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販売された
ID: 293636059
Memory test system
(2) Test head (Stations)
960 DR Channels
578 IO Channels
TG Unit:
Description / Part number
BGR-022117 / CBOX I/F
BIR-021588 / TG CORE
BIR-021587 / TG SUB
BIR-021718 / TG DIST 1
BIR-021718 / TG DIST 2
BGR-015554 / TG I/F
WBL-0175758MB / TP4 CPU/MEM
BGR-021321 / TP4A CH IF
ALPG/FM Unit:
Description / Part number / Qty
Qty / Part number / Description
(8) / BIR-021768 / AFM
(1) / BIR-021764 / PG Control
(2) / BIR-021765 / ALPG
(2) / BGR-021766 / DBM
(1) / BGR-022707 / FM CONT
(1) / BIR-021769 / BGR-021770 / PM / FM TERM
TGFC Unit:
Qty / Part number / Description
(1) / BGR-021938 / TGFC I/F
(18) / BGR-021939 / TGFC
(2) / BGR-021800 / PDS
SC/VIO Unit:
Qty / Part number / Description
(1) / BGR-021618 / VIO I/F
(2) / BGR-021619 / VIO CONT
(2) / BGR-021615 / STRB GEN
(8) / BGR-022681 / SC
(1) / BGR-021617 / PCPE
(1) / BGR-021616 / SCDIST
(1) / BGR-021941 / FTDIST
(1) / BGR-021940 / PPAT
(1) / BGR-021613 / SC I/F
DPU Unit:
Qty / Part number / Description
(2) / BGR-016793 / DPU I/F LOGI
(2) / BGR-016794 / DPU I/F ANA
(8) / BGR-016797 / DC CONT
(8) / BGR-019486 / DC
(2) / BGR-021964 / 10 V PPS CONT
(8) / BGR-021926 / BGR-016796 / 10 V PPS
TH Unit:
Qty / Part number / Description
(2) / BGM-021555 / TH CONT
(4) / BGM-021558 / DC MUX
(2) / BGM-021556 / CLAMP
(8) / BGM-021557 / CAL and SIG
(96) / BGM-021633 / PE.
ADVANTEST T 5581 Pは装置およびシステムをテストし、確認するために設計されている高性能の最終試験装置です。このシステムは、試験中のデバイス(DUT)の欠陥を迅速に検出することができ、高い精度を維持しながら歩留まりの向上、スループットの向上、コストの削減を可能にします。ADVANTEST T5581Pは、自動テスト実行、テストデータ分析、リアルタイム欠陥検出の独自の組み合わせを使用して、DUTを迅速に検証します。高速並列テストバスは、DUT性能に関連する多数のデータポイントをリアルタイムに処理することができ、包括的なテストに必要な時間を短縮できます。さらに、各テストの精度と速度を最大化するために、高度なテストパラメータ最適化ソフトウェアを使用しています。これにより、テストの意思決定に要する時間を最小限に抑え、スループットが向上します。このマシンは、外部機器を制御し、テスト中にそれらからデータを取得することができます。このデータはテストパラメータ最適化で使用でき、デバイスのアンダーテストパラメータに従ってテストパラメータを調整して精度を最大化し、全体的なテスト歩留まりを向上させる可能性のある追加情報を得ることができます。また、T 5581Pが外部の境界スキャンデバイスとインタフェースすることを可能にする多目的境界スキャンアーキテクチャを備えており、デバイス境界を効率的にテストする方法を提供します。このアセットは、マイクロプロセッサ、メモリデバイス、メモリデバイス、およびアナログICなどのデジタルロジックデバイスをテストすることができます。さらに、このモデルは、プロトコルレベルのテストや自己診断テストなど、幅広いフローチャートおよびアルゴリズムレベルのテストをサポートしています。T5581Pは手動だけでなく、自動化されたテストのために設計され、効率的なテストプログラミングのための統合されたユーザーインターフェイスを提供します。このUIは、自動ルーティングルールとインテリジェントなテストパラメータ調整戦略をサポートします。T 5581 Pは-40°F〜70°F (-40°C〜+21°C)の広い動作温度範囲を有します。また、SmartPower機能も選択可能で、テスト対象のデバイスの種類に応じて電力レベルを自動的に調整できます。ADVANTEST T 5581Pは、信頼性が高く、高性能で費用対効果の高い最終試験装置であり、あらゆるテストラボに理想的な選択肢となる幅広い機能と機能を誇っています。使いやすいユーザーインターフェイス、テストパラメータの最適化、自動化された手動テスト機能の組み合わせにより、包括的なデバイスおよびシステムテストに最適なソリューションです。
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