中古 ADVANTEST T 5581 P #162975 を販売中
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ID: 162975
ヴィンテージ: 2000
Memory test system with TSK UF 200 wafer prober
Dual test stations
Tester processor: TP4B, 8MB memory
Timing: ACLK 1-128
BCLK 1-128
CCLK 1-128
DRE 1-128
STRB 1-128 DC: 16 channels per station
Trigger terminal: 1
GPIB interface: 1
EMO switch: 3, 1 as standard with 2 as option PPS:
64 channels per station
Tester channel: DR 480 channels per station (for D-type) I/O 288 channels per statsion (for D-type)DC 32 channels per station (for D-type)
Failed Memory: 1G bit x 8
MRA3
Cooling system: CL5581P-LA
Performance Board for TSK UF200 is included
Workstation: Ultra5 with 384MB memory
TSK UF 200 configuration:
Gold hot chuck
Single loader unit
Fine Alignment unit
Displacement sensor
Main body includes control box, FDD, HDD, TTL tester interface
Automatic probe-pad alignment system
Automatic needle height adjustment
GPIB interface
Automatic probe mark inspection
Fail map inspection
Needle Cleaning
Semi-auto card changer (MPC)
Ethernet
Bar code reader
2000 vintage.
ADVANTEST T 5581 Pは、最終的なテストアプリケーションでの使用のために特別に設計された高性能で自動化された試験装置です。このシステムは、幅広い自動テスト機能と機能を備えた完全なテストソリューションを提供することができます。ADVANTEST T5581Pは、強力なIntelプロセッサ、高速DRAM、ソリッドステート不揮発性メモリ、および最新の通信インタフェースを1つのコンパクトユニットで動作させる高集積ユニットです。このマシンは、高速通信、自動組立およびプロセス制御、複雑なデバイス特性評価など、最も要求の厳しいテストアプリケーションの要求に応えるように設計されています。T 5581Pは、完全なテストソリューションのパフォーマンス、正確性、および完全な機能を提供するように設計された多くの機能を提供します。このツールは、リアルタイム制御が必要なアプリケーション、テストデータを格納するための高いメモリ容量、および複数の測定を同時に実行することによってテスト時間を短縮する機能のための組み込みエレクトロニクスを備えています。T5581Pは、豊富なテストツールとアルゴリズムを駆使して、正確で繰り返し可能な結果を提供します。このアセットは、標準テストとカスタムテストの両方を実行するために使用でき、結果がテスト対象の部品またはデバイスの品質と性能を正確に反映することができます。このモデルには、さまざまな診断および分析ツールも含まれており、エンジニアはテスト対象デバイスの問題をすばやく特定して解決することができます。この装置は、自動化されたデバイスの特性評価と組立テストを処理するのに適しています。T 5581 Pに含まれるソフトウェアは、テストパラメータへのフルアクセスを提供するように設計されているため、エンジニアは特定のアプリケーションのテストを迅速に構成およびカスタマイズできます。さらに、わかりやすいGUIにより、システムのナビゲーションと操作がほぼ簡単になります。幅広い機能を備えたADVANTEST T 5581Pは、自動化されたテストソリューションを必要とするあらゆる製造プロセスに理想的なユニットです。優れた性能と精度を提供しながら、さまざまな強力なテストツールと機能を提供します。さらに、この機械は信頼性が高く、費用対効果の高い操作を提供します。
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