中古 ADVANTEST T 5581 P #161369 を販売中
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ID: 161369
Memory test system
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.320DR+144I/O
2.480DR+144I/O
3.320DR+288I/O
4.480DR+288I/O [1-4] ............> 1
TH CABLE LENGTH 1.5M
2.8M [1,2] ......................> 2
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE 1.800CH
2.1600CH [1,2] .....................> 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-021633 (FULL PE)
2.BGM-021633X02 (I/O PE)
3.BGM-021633X03 (DR PE)
SLOT 33 36 39 161 164 167
CHILD A ....> 1 1 1 3 0 0
CHILD B ....> 1 1 1 3 0 0
CHILD C ....> 0 0 0 0 0 0
CHILD D ....> 0 0 0 0 0 0
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-48,97-128] ......> 1-16
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF ALPG
NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..............................> 2
CONFIGURATION OF DBM
DBM OPTION EXIST [Y,N] ..............................> YES
SIZE OF DBM BOARD ....................................> 64KW*240B
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1-2] [1:NORMAL(AFM) 2:MRA4(FMRA)] .......> 1
NUMBER OF FM BOARD [0-8] ............................> 4
SIZE OF AFM BOARD [0-2] [0:256K 1:1M 2:4M] ........> 1
PATTERN MEMORY(PM) BOARD EXIST [Y,N] ................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA3 OPTION [Y,N] ...........................> YES
MRA OPTION TYPE [ 3] (3: MRA3) ................ > 3
TYPE OF CBU BOARD [1,2] (1: BGR-019267 )
(2: BGR-019267X02) ....> 1
NUMBER OF CBU BOARD [1-8] ...........................> 4
TYPE OF FBM BOARD [1,2,3] (1: 4M*72BIT)
(2: 8M*72BIT)
(3:16M*72BIT) .........> 1
NUMBER OF FBM BOARD [1-4] ...........................> 4
RESULT DATA HI-SPEED READ FUNCTION [Y,N] .............> YES
COMPRESSION FUNCTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FCDC
PIN PATTERN OPTION [Y,N] ...........................> YES
PIN DRE OPTION [Y,N] ...........................> YES
PIN CPE OPTION [Y,N] ...........................> YES
END SAVE.
ADVANTEST T 5581 Pは、自動車エレクトロニクス、家電、半導体デバイス、その他の集積回路部品などのデジタルおよびミックスドシグナル製品のテスト用に特別に設計された自動機能試験装置です。このシステムは、さまざまなデバイスに高性能で信頼性の高いテストカバレッジを提供します。ADVANTEST T5581Pは、最大50MHzのクロック速度と最大4つのアナログまたはデジタル入出力カードを備えた12チャネルの並列多目的I/Oを内蔵しています。これにより、最大24チャンネルの同時テストが可能になります。また、デュアルコアプロセッサを搭載しており、最大400 kHzのクロック周波数と毎秒150 mのサイクルの高速テストサイクルを提供します。内蔵の2Dスキャナにより、テストの効率が向上し、サイクルタイムが短縮されます。一方、特許取得済みのマルチセンサーテスト信号により、誤った故障レポートが排除されます。さらに、使いやすい外部プログラミングインターフェイスは、Visual Basic、 C++、 ToolCなどのさまざまなプログラミング言語をサポートしています。このマシンは強力なテスト開発環境と組み合わされており、複雑なテストシナリオを設計し、顧客の仕様に従って簡単にテストカバレッジをカスタマイズできます。WindowsベースのGUIにより、I/Oチャンネル、インストゥルメント、ソフトウェア、アナログ、デジタル信号の定義など、テストをすばやく変更および調整できます。ユーザーフレンドリーなインターフェイスに加えて、T 5581Pは自動生成アプローチも備えており、お客様の要求に沿ったベンチマーキングテストプログラムを自動生成します。T5581Pは信頼性が高く効率的な自動テストソリューションで、メーカーが自社製品の厳しい品質要件を満たすことができます。テストを実行する際に安全でエラーのない操作を保証するさまざまな安全機能を備えており、機能テストと境界テストの両方に使用できます。このツールは、1つのセットアップで複数のデバイスの機能を検証することもでき、大規模で複雑なテストに適しています。さらに、柔軟なアーキテクチャにより、複数のテストスイートと関連機器を1つの資産に統合し、さらなる効率とコスト削減を実現します。
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