中古 ADVANTEST T 5503 #9203266 を販売中

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製造業者
ADVANTEST
モデル
T 5503
ID: 9203266
Memory tester Head type: 8448 Channels Mother board: 512 Para type Frequency: 1.143 GHz / 2.286 Gbps Workstation: WUN-H3610295EWS CPU: Pentium(R) 4 CPU 2.80 GHz Docked with M6242 handler TH Channels: DR: 3840DR + 768DR IO: 3072IO HSCLK Mode Level DR: 768LVDR PPS: 768 PPS + 256 PPS DC: 128DC FC Channels: 120DR+24DR / 96IO Accuracy: OTA: +/- 75ps (SBCAL) Dr/Cp Skew: 60 ps p-p Parallel test: X8 / x9: 256 DUT / System PIN No: 1-30, 33-56, 65-94, 97-120, 129-158, 161 TP: 101-199 PB: 101-199 DPU: 1-99, 101-199 ALPG: 1-99, 101-199 FT: 1-99, 101-199 TH: 1-99, 101-199 Board configuration: Slot / Type / Rev PE1A1 / PE board / BCC PE7A1 / PE board / BCC PE13A1 / PE board / BCC PE65A1 / PE board / BCC PE71A1 / PE board / BCC PE77A1 / PE board / BCC PE1C1 / PE board / BCC PE7C1 / PE board / BCC PE13C1 / PE board / BCC PE65C1 / PE board / BCC PE71C1 / PE board / BCC PE77C1 / PE board / BCC OPPEA1 / - / ABC OPPEC1 / - / ABC DCPPS1 / - / CFA DCPPS2 / - / CFA DCPPS3 / - / CFA DCPPS4 / - / CFA OPPPS / - / CFA THDIST / - / BAC PLL / - / AHA SYSMONI / - / ADA 2 (TPU) / TBUS IF Board / AHA 2012 vintage.
ADVANTEST T 5503は、半導体ウェーハダイの専用テスト用に設計された信頼性の高い正確な最終試験装置です。さまざまな用途に対応する半導体デバイスの自動高解像度試験を管理しています。このデバイスは、コンパクトなフットプリントを備えた費用対効果の高いソリューションでもあります。T 5503には、8ビット、130ナノ秒の解像度、32ビットのデータ収集システムが搭載されており、1秒あたり最大1,000サンプルのスループットが可能です。また、ほとんどすべての利用可能なテストヘッドと互換性があり、カスタマイズされたデバイステストを可能にします。さらに、統合された自動テストプログラミング(ATP)ユニットを備えており、テストの簡単なセットアップと統合が可能です。このデバイスの測定機能には、電圧、電流、抵抗、電力、容量、およびその他のパラメータが含まれます。ADVANTEST T 5503は、包括的な制御および測定機能を備えており、さまざまなテストルーチンを同時に管理できます。電源電圧、刺激信号、測定周波数、サンプリング設定など、多数のパラメータを制御できます。T 5503は、試験結果を解釈して保存する、組み込みの信号コンディショニングおよび分析装置を利用しています。データは、簡単な検索とトレンド分析のために分類することができます。このデバイスはまた、データをスキャンして圧縮してからマシンのメモリに送信することができるプローブステーションに接続されています。このツールは現在、標準構成とハイパフォーマンス構成の2つのパッケージで提供されています。両方の構成には、グラフィックスおよびデータ表示用の10 インチTFT液晶画面が含まれています。また、標準パッケージにはLANポートと、セキュアなデータ収集とシステム管理のためのオプションソフトウェアが装備されています。この資産は、使いやすい住宅に囲まれており、包括的なサービスおよび保証プログラムによってサポートされています。ADVANTEST T 5503は、優れた信頼性と優れたレベルの品質保証を備えた半導体デバイスをテストするための品質、コスト効率の高いソリューションです。
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