中古 ADVANTEST T 5377S #293822510 を販売中

ADVANTEST T 5377Sは、半導体デバイスの幅広い試験を行うために設計された最終試験装置です。高度な半導体テストハンドラと一連の高度なテストプラットフォームを備えています。高速なテスト実行で高いスループットを備え、複数のデバイスを同時にテストすることができます。ADVANTEST T5377Sテストコントローラは、ソフトウェアツールの完全なスイートを利用し、テストドライバとプロトコルの柔軟なプログラミングを可能にします。ソフトウェアスイートにより、RF、アナログ、デジタル、および信号整合性などのさまざまなタイプのデバイスおよび静電容量テスト用にシステムをプログラムすることができます。さらに、さまざまなデバッグツールは、テストプログラムのトラブルシューティングとデバッグの高度な手段を提供します。T 5377 Sのテストハンドラは、1つ以上のテスト機器を同時にユニットにバンキングして接続することができます。このハンドラは、テストピンの電流および電圧レベルを制御しながらテストユニットにテストデータをストリーミングする機能を提供します。さらに、複数のサイトでさまざまな電流と電圧レベルを記録できるマルチポイント測定機能をサポートしています。また、セルフテスト機能を備えており、機械の動作を検証し、テスト前に障害のある接続を検出する機能を提供します。T5377Sのテストプラットフォームは、テストシーケンス中に最適なパフォーマンスを保証するように設計されています。このプラットフォームには、正確な電流制限機能、広いダイナミックレンジ測定、双方向電圧テスト、および複雑なマルチサイトテストで高速なテストシーケンス加速を可能にする低電圧スキャンオプションが備わっています。テスト時間を最小限に抑えるため、T 5377Sにはさまざまなシンセサイザー出力用の内部クロックソースが装備されています。調整可能なパラメータ設定により、ツールはさまざまな周波数と波形を生成できます。これらの機能により、精度を維持しながら半導体デバイスを迅速に検証できます。最後に、ADVANTEST T 5377 Sは、業界標準への完全な準拠を確保するための包括的な認定計画で設計されています。資産の信頼性を確保するために、このモデルはユーザーフレンドリーな診断アドバイザーによってバックアップされ、トラブルシューティングの手順とメンテナンスレポートを強調して、問題を特定するプロセスを簡素化します。