中古 ADVANTEST T 5377S #293764490 を販売中

ADVANTEST T 5377Sは、複数のアプリケーションおよび欠陥試験用に設計された、信頼性が高く、効率的で正確な最終試験システムです。24段階のアーキテクチャにより、スケーラブルなテストセル構成をサポートし、テスト要件に応じて自動テストシステムを使用できます。データストリーミングにより、スループットを向上させるリアルタイム処理を可能にする高度な測定機能を提供します。ADVANTEST T5377Sは、直感的なGUI（グラフィカルユーザーインターフェイス）を使用してテストプロセスを簡素化します。このシステムはデータ収集をサポートしており、データを標準形式で簡単に保存できます。その汎用性の高いスキャンチェーンアーキテクチャは、データストリーミング用に最大32ビットで作成されます。T 5377 S CPUは最大4台の32ビットプロセッサと最大8ギガバイトのメモリで動作し、自動テストに十分なリソースを提供します。T 5377Sは、組込みセンサーによる高度な校正および測定技術により、高精度な測定を提供します。その高度な校正オプションにより、高速スキャンと並列試験の両方で迅速かつ簡単に校正できます。これは、個々の欠陥チップを迅速に識別するための高度な欠陥診断と障害検出アルゴリズムで設計されています。T5377Sには、強力なシグナルコンディショナ（SC）、クロックジェネレータ（CG）、プローブが含まれており、すべてADVANTEST T 5377 Sコントローラと同期されています。このシステムは、トランジスタ領域試験、二次パラメータ最適化、フルダイ特性評価など、さまざまなシリコン試験構造を測定することができます。また、ダイ情報をすばやく識別するための完全な識別ルーチンもあります。ADVANTEST T 5377Sには、高速データ結果計算用のリアルタイムデータ解析エンジンも含まれています。これは、テスト時間を短縮するための高スループット信号コンディショニング技術を持っています。その自己診断技術は、正確な結果を保証するために、信号やエラーの不規則性を検出します。また、信号レベルのパフォーマンスを追跡し、テストの失敗を解決するためのシグナルトレース機能も備えています。ADVANTEST T5377Sは信頼性が高く、マルチアプリケーションテストおよび欠陥解析機能の包括的かつ完全な配列を提供します。優れた製品寿命テストを提供し、手動テストセル構成の必要性を排除します。その高度なキャリブレーションおよび測定技術、マルチアプリケーションテストサポート、組み込みセンサー、リアルタイムデータ分析機能により、さまざまな最終テストシステムに最適です。