中古 ADVANTEST T 5377S #293764486 を販売中
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ID: 293764486
Memory tester
Missing Hard Disk Drive (HDD)
(20) WBL-PS11V68A SUB ACC
(4) SHINWA CH7-H1-D1 Cooling units
(6) CALSIG
PPS
Work station:
(4) WBL-029065 TPRCPU
(4) DC
WBL-H3610027TP6A TP6A
DPU I/F
PSMON I/F
LG FLATRON E1910P-BN Monitor
Main frame:
(22) PGFM
(14) WBL-PS3750WX02 MAIN ACC
Test head 1:
(4) DR PE
(16) I/O PE
(16) PPS
(6) CALSIG
Test head 2:
(4) DR PE
(16) I/O PE.
ADVANTEST T 5377S Final Test Equipmentは、ミックスシグナル半導体デバイスの大量最終試験用の高性能マルチサイトテスターです。このシステムは、1台のオペレータで最大4台のDUT(テスト中のデバイス)を同時に処理することができます。ADVANTEST T5377Sは独自のモジュール式DUT構成を採用しており、柔軟なデバイステストを可能にし、幅広いデバイスタイプに対応します。このユニットには、各デバイスの自動テスト設定と消費電力設定を提供するカスタムアルゴリズムもプログラムされています。T 5377 Sは、精度を向上させながら試験時間を短縮するいくつかの機能を備えています。最大4つの同期IPM®モジュールを備えた高速双方向PathMark-Bus TMアーキテクチャを使用しており、精度を向上させて迅速なテストを可能にします。デバイスプログラミングはPathMark-Bus TMインターフェイスを介して容易に行われ、各IPM®モジュールにテスト結果をすばやく伝達します。これにより、合計テスト時間は3秒未満となります。また、様々な試験工程を機械内で実施T5377Sます。これには、デバイスのキャリブレーション、パラメトリックテスト、オシロスコープ測定、障害診断が含まれます。このツールを使用すると、デバイスごとに複数のカスタムテスト設定を保存する機能を含む、さまざまなタイプのデバイスの複数のテスト設定も可能になります。さらに、このアセットには、自動テストレポート(ATR)やデータロガーなどのツールが含まれており、お客様は時間の経過とともにテスト結果を追跡およびレポートすることができます。T 5377Sはユーザーの安全を念頭に置いて設計されています。これは、短絡からオペレータと機器を保護するためのいくつかの対策だけでなく、テスト中の電流と電圧レベルを備えています。このモデルはまた、EMC準拠のRFシールドで構築されており、デバイスのテストに安全かつ効率的な方法を提供します。全体的にADVANTEST T 5377 S最終試験装置は、大容量、高速、正確なデバイス試験用に設計された高度な試験機です。その高度な機能と環境に優しい設計は、生産とデバイスのテストのための例外的なツールになります。このシステムはまた、長期的なテスト安定性を提供し、効率を向上させ、生産コストを削減するように設計されています。
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