中古 ADVANTEST T 5377 #9210975 を販売中
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ID: 9210975
Memory tester
(2) Test heads
Channels
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION
1. 512DR + 320 I/O (QUARTER)
2. 1024DR + 640 I/O (HALF)
3. 2408DR + 1280 I/O (FULL) [1-3] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
TYPE OF DR PE [1:DR PE, 2:24Ch HVDR PE] .............> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NOT EXIT
1. EXIT
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD TYPE 0.NOT EXIT
1. EXIT
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ............> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ............> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ...........................> 16
SIZE OF FMRA BOARD [1:8G, 2:16G] ....................> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] ..................> NO.
ADVANTEST T 5377はテストおよび測定のための十分に特色になり、費用効果が大きい解決である最終試験装置です。これは、今日の複雑な製品設計および開発要件のニーズを満たすように設計されており、迅速なシステム解析と故障診断に必要な包括的なツールを提供します。ADVANTEST T5377は、高度なフィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)技術に基づいており、高いテスト速度と低データのオーバーヘッドを可能にする革新的な設計技術を使用しています。高速パルステストシステムは、両方向のパルス信号を測定し、アプリケーション固有の要件を満たすようにカスタマイズできます。このユニットには、最大2.5kWの出力電力を可能にする統合された電源も備えています。また、ユーザーフレンドリーで直感的なユーザーインターフェイスが組み込まれており、高速で強力で使いやすく、経験豊富なユーザーと初心者の両方のニーズを満たすツールを構成できます。統合されたテストアセットには、開発チームがモデル分析を実行しながら潜在的な問題を迅速かつ正確に特定し、特定することができる便利な機能が多数あります。Circuit Trace、 Signal Check、 Error Capture、 Clock Trace、 Auto Diagnosisなどの高度な機能により、問題の分離プロセスを合理化できます。この買収装置は、高速かつ低消費電力で信号をキャプチャすることができる広帯域取得アーキテクチャを利用しています。to55dBのダイナミックレンジは、ますます複雑化するアプリケーションの要求に対応するために利用可能です。T 5377はさまざまなテストパラメータをサポートしているため、混合信号、高周波通信、信号整合性、デジタル回路基板など、幅広い製品のテストに適しています。このシステムはシングルピン絶縁機能も備えており、残りのテストベッド環境から分離した個々のプローブ信号を正確に測定することができます。全体的に、T5377は製品設計と開発の厳しい要件のために特別に設計された最終的なテストユニットです。パワフルで直感的な機能、高速パルステストシステム、優れたデータ取得機能を組み合わせることで、これまでにない複雑なレベルのパフォーマンスを測定するための費用対効果の高いソリューションとなります。幅広いアプリケーションと製品サポートを備えたADVANTEST T 5377は、さまざまな製品をテストおよび検証するのに理想的な選択肢です。
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