中古 ADVANTEST T 5377/75 #9123602 を販売中

ADVANTEST T5377/75は、トランジスタ、ダイオード、抵抗、コンデンサ、その他の多くのデバイスなどのディスクリート機器の認定、プロセス分析、または特性評価用に設計された高度な最終試験システムです。高いスループット機能により、正確な信号解析と、さまざまなデバイス試験ニーズに対応する柔軟性を提供します。T5377/75には、テスターユニットとプログラマブルテストコントローラの2つのメインシステムが含まれています。テスターユニットは、テストヘッドユニット、計測ヘッド、信号入出力（入出力）、専用ボードで構成されています。測定ヘッドには、AC、 DC、パルス、および過渡信号を測定するための外部プローブを接続するための複数のテストチャネルが付属しています。温度制御モジュールはまた、テストする適切な作業環境を確保するために個々のテストチャネルの環境を調整するのに役立ちます。シグナルI/Oユニットを使用すると、パルスジェネレータやデータ収集システムなどの外部アナライザに外部接続できます。特殊基板は、バイアス、スルーレート、およびその他の重要なパラメータなどの試験パラメータを制御します。このテスターには、テスト精度を向上させるための高度なプロービング、電流、電圧、時間にわたるデバイス特性を分析するための自動光信頼性/フーリエ分析、およびテストプログラムの迅速な開発や既存のものの変更を支援するプログラミングサポートツールなどの機能が用意されています。プログラマブルテストコントローラ（PTC）は、さまざまなデバイスをテストするための統合接続プラットフォームを提供します。直感的なグラフィックユーザーインターフェイスを使用して測定パラメータを制御し、ユーザーが個々のニーズに合わせてデバイステストプロセスを調整するためのさまざまなスクリプトオプションを提供します。テスト加速は、PTCが提供する重要な機能です。これにより、ユーザーは信号パラメータを迅速かつ正確に最適化できます。T5377/75は、すべてのタイプのデバイスのテストを提供しています。高速スループットと小さな信号を測定する能力を備えたこのT5377/75は、研究開発アプリケーション、実験室試験、製造生産に最適です。柔軟なシステムアーキテクチャにより、最大80のテストチャネルを容易に拡張できます。全体的にADVANTEST T5377/75は、デバイスのテストと特性評価を簡素化するための理想的なシステムです。