中古 ADVANTEST T 5376 #293738682 を販売中

ADVANTEST T 5376は、集積回路と部品の自動テスト用に設計された「最終テスト」装置です。このシステムは、出荷前の製品の機能と性能の検証に役立ち、市場投入までの時間を短縮するために設計された包括的な機能セットを備えています。ADVANTEST T5376は、Advanced Test Architecture （ATA）を搭載した高速データ収集ユニットを使用しており、マルチチップデバイスのマルチサイトテストが可能です。これは、テスタチャネルの使用率を低減し、全体的なテスタコストを低減するため、大量のピンを備えた集積回路およびコンポーネントをテストするために重要です。T 5376は最大1,250万ピン/秒（静的/論理テストと組み込みパラメトリックテストの両方）のスループットを備えており、最大32,000ピンの割り当てを安全に保存でき、ユーザーは最小限の労力で大規模なデバイスのピン構成を素早くプログラムできます。T5376は、高ピン数デバイスの効率的なテストのために特別に設計された分散スキャンテスト（DST）方法論を使用します。これにより、ユーザーは高いピン数を持つ複雑なデバイスをすばやくテストすることができ、製品が顧客に提供される前に指定されたすべてのテストに合格することができます。DSTはまた、テストプローブとポイントの全体的な数を減らし、デバイス内の回路基板または基板の数を最小限に抑えるのに役立ちます。ADVANTEST T 5376は、IEEE 1149。1-2001規格に完全に準拠したESFであり、組み込みパラメトリックテスト機能（EPTF）を使用するマシンレベルテスト用の安全なインタフェースを提供します。コンパクトなサイズながら、最大40の双方向テストチャネルを内蔵し、最大テスター速度は8nsで、高速デバイスの迅速なテストを可能にします。さらに、ADVANTEST T5376には、パターンジェネレータやライスタイム/フォール感度制御などの特殊な機能があり、正確な信号調整に使用でき、より正確なピン測定が可能です。また、高度な半導体デバイスで非常に有用なマルチタンジェントテスト機能や、包括的なデータ分析のための複数の曲線フィッティングアルゴリズムやレポート作成機能も備えています。T 5376「最終テスト」ツールには、テストプロセスの最適化とテストパラメータの制御に役立つ包括的なオンボードテストソフトウェアが付属しています。オンボードソフトウェアを介して、T5376は、複雑なデバイスの広い範囲をテストしながら時間とリソースを節約することができます。また、ミックスシグナルおよびRFブロードバンドテスト環境内での動作も可能であり、デザイナー、エンジニア、技術者にとっても貴重なツールです。