中古 ADVANTEST T 5375 #9396775 を販売中

ADVANTEST T 5375 Final Test Equipmentは、複雑で大量の半導体デバイスに対して包括的で再現性のある生産試験を提供するハイエンドの自動ATE（自動試験装置）システムです。高密度810 UPH （Units per Hour）までの幅広い半導体デバイスに対応し、信頼性、堅牢性、構成性に優れています。これは、最大28のアナログおよび/またはデジタルテストサイトをサポートする非侵襲的なマルチサイトテストマシンです。ADANVANTEST ADVANTEST T5375 Final Testツールには、効率的なテストを確実にするためのさまざまな機能が含まれています。これには、最大8サイトのICを同時にテストするための高速データ取得を備えたアナログおよびデジタルテストシステムが含まれています。さらに、汎用性の高いトータルソリューションソフトウェアパッケージ、詳細なデバイスデータ分析、多くのパッケージングフォーマットのサポート、混合デバイスのノンストップテスト、カスタマイズ可能なパラメータリストを提供します。また、多くの自動計算機能が含まれており、運用パラメータの最適化と信頼性の向上を保証します。T 5375 Final Test Assetのパフォーマンスは例外的です。高速試験機能を備え、並列試験には最大1。2GHzの高スループットを提供します。また、オンザフライレベルやタイミング補正、サンプリングレートの選択など、幅広いテストパラメータとプロシージャを使用できます。さらに、高度な故障診断および解析機能により、テスト中のデバイスをよりよく理解するための詳細なテストレポートを作成することができます。Final Test Model T5375、さらなる運用改善のために、包括的なプロセス制御および監視機能を提供します。これには、TCMの高速データ取得と処理、およびその他のさまざまなプロセス制御パッケージのサポートが含まれています。自動化されたプロセス制御パッケージにより、完全なA/D変換とパラメータ監視が可能になります。ADVANTEST T 5375 Final Test Equipmentは、大量の半導体デバイスに対して高速で信頼性の高い試験結果を提供できる強力なATEシステムです。非常に構成可能で、さまざまなICおよびパッケージ用の包括的なテストソリューションを提供しています。ユーザーフレンドリーなインターフェイス、高速テスト機能、優れたプロセス制御および監視機能を備えています。生産およびプロトタイピング用途に適しており、大量の半導体デバイスの試験に最適です。