中古 ADVANTEST T 5375 #9199877 を販売中

ADVANTEST T 5375は、半導体デバイスの故障診断および後診断試験を行うために使用される最終試験装置です。高速かつ低消費電力のデータ転送ユニットを使用して、デバイスのパフォーマンスを迅速かつ正確に診断します。ADVANTEST T5375は、CMOS、バイポーラ、BISMOS、フルダイオード、ハーフダイオード、ローパワーMOSFETなどのさまざまなタイプの半導体の故障診断テストのライブラリで構成されています。さらに、このマシンは特別な目的のデバイスのカスタムテストアルゴリズムをサポートしています。T 5375はまた、シリコンレベルのATE、エンジニアリング開発キット、回路内および機能テストなどのテスト可能アプリケーションの設計にも対応しています。このツールには、パフォーマンス駆動テスターとチップ上でテストを実行するための統合ファームウェアとライブラリが含まれています。T5375には最大8つのI/Oポートがあり、それぞれに2。5 Gbpsの信号容量があります。このアセットは、複数のボードで最大1,600ピンの並列テストを提供します。ADVANTEST T 5375は、エラーにフラグを付ける高度な故障検出および解析モデルを備えており、故障情報の詳細な分析を提供します。この機器には、プログラマブルビジョン、オートフォーカス、エッジ検出カメラ機能も内蔵しています。これにより、イメージベースの故障診断が可能になり、エンジニアはエラーを迅速に診断して修正し、歩留まりを向上させることができます。このシステムはセルフキャリブレーションも可能で、エンジニアはセンシングレベルとテストレベルを素早く簡単に調整できます。さらに、Gndshield機能を提供し、ノイズからシールドしてテスト信号が影響を受けないように保護します。ADVANTEST T5375は簡単にアップグレードでき、ライブファームウェアの更新をサポートします。T 5375にまた大きいLCDのタッチ画面およびグラフィカルメニュー機能のユーザーフレンドリーなインターフェイスがあります。この画面は、デバイスパラメータとテスト結果の可視化を可能にし、エンジニアにデバイスとその動作の包括的なビューを提供します。全体として、T5375は多目的で包括的なファイナルテストユニットであり、幅広い半導体デバイスのトラブルシューティングと診断のための幅広い機能と機能を提供します。ADVANTEST T 5375は、使いやすいグラフィカルインターフェイス、高度な故障検出および解析機能、ノイズシールド機能を備えており、半導体デバイスに強力で信頼性の高い最終試験機を必要とするエンジニアに最適です。