中古 ADVANTEST T 5375 #9181104 を販売中
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ID: 9181104
Memory tester
/DIAG/G
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 0
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 0
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO
END SAVE.
ADVANTEST T 5375は、高度な半導体デバイスの製造に使用するために設計された高性能の最終試験装置です。このシステムは、マルチサイトオートマチックハンドラ、テスター、およびサーマルショックチャンバーを備えたパッケージおよびベアダイ集積回路の包括的なテストを行うことができます。ADVANTEST T5375は、デジタル、ミックスドシグナル、アナログテストフォーマットからの完全なテスト機能を1つのユニットでサポートします。完全なベクトルデジタルテスト機能は、JTAG、 IEEE 1149。1、およびIEEE 1149。6プロトコルをサポートするベクトルステッププログラマブルメモリユニットによって提供されます。ミックスドシグナル機能は、アナログ/ミックスドシグナルテスターと専用のダイナミックパラメトリックテストマシンによって提供され、高速アナログおよびデジタルテストが可能です。このツールは、インアセットプログラミングとパフォーマンス検証もサポートしています。T 5375は、さまざまな自動テスト機能を備えたユーザーフレンドリーなグラフィカルオペレーターインターフェイスを提供します。このインタフェースにより、プロセス制御や診断システムなど、お客様の生産ラインや外部データベースシステムとのシームレスな統合が可能になります。柔軟なテストスケジューリング、フルパラメータ化、複数のテストプログラム、データロギング、リアルタイムレポートとトレンド、カスタマイズ可能なデータプレゼンテーションとレポート、および幅広いパラメータリコールをサポートします。T5375はまた、テスト中のデバイスの複数の構成を素早くセットアップして処理するためのマルチサイト自動ハンドラを装備しています。このハンドラは、最大3。2mmのサイズのベアダイを処理でき、1トレイにつき最大160台のデバイスを使用できます。また、チップ、フレーム、ボード、治具の取り扱いにおいても、高精度の組立および実装作業をサポートしています。ADVANTEST T 5375はまた、広範囲の温度でデバイスのテストを可能にする自動熱衝撃チャンバーを備えています。このチャンバーは高度なマルチプログラミング機能を備えており、最大32のテストのテスト実行をプログラムして簡単に取得できるようにしています。この機能により、自動車、医療、航空宇宙、およびその他の極端な温度環境で使用するためのICの迅速かつ堅牢な性能試験が可能になります。全体として、ADVANTEST T5375は集積回路のテストのための包括的で自動化されたソリューションを提供し、広範なテストを必要とする企業にとって魅力的な選択肢となります。豊富な機能を備えたこの最終テストモデルは、半導体デバイスの生産に最適です。
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