中古 ADVANTEST T 5375 #9166525 を販売中

ADVANTEST T 5375は完了された破片が機能であり、顧客の要求を満たすことを保障するために破片の生産プロセスで使用される最終試験装置です。大規模なウェーハプローバで使用され、大量のチップを短時間でテストできます。このシステムは、SRAM、 DRAM、 Flashなどの大容量メモリデバイスを簡単にテストできる、強力で汎用性の高いテスト機能を備えています。ADVANTEST T5375には、強化されたテスト制御アーキテクチャ、より信頼性の高いプログラムのためのテストアクセスシステム、および自動テストパターン生成機能が含まれています。また、様々な問題のテスト結果を評価するための結果分析機能を組み込むことができます。学習しやすいインターフェースにより、迅速な導入が可能です。また、エンジニアは、テストプロセスの精製と最適化に使用できる貴重なテストデータを得ることができます。T 5375には、幅広いテストニーズに対応する強力なハードウェア機能が搭載されています。このユニットには、8チャネル、64ビットのオープンMCTestインターフェースを備えた高速ノー・ウェイト・タイム（NWT）メザニンカードが搭載されており、複数のチップとアドバンスドハードウェア・トリガー（AHT）マシンが高速に並列アクセスでき、オンウェーハのテスト時間が短縮されます。また、高度なDSPカード、コントロールユニット用の603PPC Field-Programmable Gate Array （FPGA）、およびすべてのメモリデバイス用のSRAMデバイスインターフェイスを含む高度なメモリカードアーキテクチャを使用しています。T5375はまた、高精度の線形位置決め技術を使用して、テストプロセス中に正確な位置制御を可能にします。この技術により、プローブの正確なアライメントと位置決めが可能になり、信頼性の高いウェーハアライメントが保証されます。さらに、ADVANTEST T 5375は、プロセスバリエーションを管理するために簡単にプログラムすることができ、多種多様な製品やプロセスに対して最小限の変動性で正確な試験結果を提供します。さらに、ADVANTEST T5375は、テストのセットアップやプログラミングを容易に処理するためのリアルタイムJTAGサポートを含む包括的なテスト環境管理機能を組み込んでいます。テスト環境には、各チップが同じパラメータでテストされることを保証するために、自動化されたテストパラメータチェックとテスト結果ベースのパラメータチューニングも装備されています。T 5375は複数のサンプルで同時にテストを実行することができ、最大のスループットと生産性を提供します。全体として、T5375は、正確なテスト結果を確保し、各チップがお客様の要件を満たしていることを検証するための強力で信頼性の高い最終テストツールです。その汎用性の高い機能セットと高度な機能により、チップメーカーは速度、効率、およびテスト精度を最大化することができます。それは今日の競争の激しい市場の良質品を渡すための完全な解決です。