中古 ADVANTEST T 5375 #9158916 を販売中

ADVANTEST T 5375は、複雑でピンカウントの高い半導体デバイスの高速で高精度な試験用に設計された最終試験装置です。このシステムは、大量の高速試験を実現するための高度な技術を組み合わせて、歩留まりを向上させ、コストを削減するように設計されています。ユニットの中心にはSmart-SASSテスターがあり、広範囲の温度および電圧範囲にわたって高分解能の試験機能を提供します。また、その優れた機械的安定性と精度のために選択されたプロービングソリューションのライブラリも急速に拡大しています。このマシンは、パワフルで直感的で使いやすいWindowsベースのソフトウェアスイートによって制御され、デバイステストプログラムの開発、デバッグ、およびストレージの中心的なポイントを提供します。また、Smart-SASSテスターやツールの他のコンポーネントの操作を制御するためのインターフェイスも提供します。ADVANTEST T5375は、複雑なDFTラベリングスキームと簡単に再構成可能なテスト構造をサポートしているため、高ピン数デバイスの使用に最適です。さらに、高速プロービングとキャリブレーションをサポートし、大量の生産環境における不良デバイスの迅速な識別と修正を可能にします。このモデルは、テスト機能を強化するいくつかの追加技術を使用しています。これには高速クロックジェネレータが含まれており、大量の製造のために非常に高速でデバイスブランクをテストすることができます。ウェーハレベルのパラメトリックテストに使用されるオンスクリーンリファレンスグリッド。また、オンウェーハプローブは、テスト用のデバイスブランクを正確に特定することにより、テスト精度を向上させます。さらに、温度シミュレーションセットが内蔵されており、さまざまな温度条件をシミュレートすることができ、現実世界でのパフォーマンスをより正確に表現できます。全体として、T 5375は強力で費用対効果の高いテストソリューションであり、半導体デバイスの大量の高精度テストを提供します。高度な技術とさまざまなテストサポート機能を組み合わせることで、最高水準の精度と信頼性を維持しつつ、コストの削減と歩留まりの向上を支援します。