中古 ADVANTEST T 5375 #162944 を販売中
URL がコピーされました!
ID: 162944
Memory test system
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 16
SIZE OF FMRA BOARD [0:0G,1:1.44G,2:2.88G] ..........> 1
TYPE OF CFM [1:TYPE-1,2:TYPE-2] .............> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G] .....................> 1
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO.
ADVANTEST T 5375は、半導体テストソリューションのグローバルリーダーであるADVANTEST Corporationによって開発された統合された最終試験装置です。このシステムは、最新のSilicon Test Platform （SIP）技術に基づいており、さまざまなマイクロプロセッサ、メモリ、ロジックデバイスの幅広いテスト要件に柔軟かつ費用対効果の高い機能を提供します。ADVANTEST T5375には、メインフレームと、幅広いデバイスをサポートする柔軟性を提供する多数のカートリッジが含まれています。メインフレームは、WindowsベースのGUIユニットとPXIベースの分散計測機を含む2つのホストコンピュータシステムで構成されています。これにより、構成やデータ収集など、すべてのテストアクティビティをホストレベルで制御できます。さらに、T 5375には、高速、低電圧、標準テストおよびバーンインタスクをサポートする複数の統合テストインターフェイスがあります。T5375ツールは、さまざまな試験機器や技術を使用しています。この資産には、包括的な障害カバレッジを提供する統合モデルレベルのテストがあります。テスト装置は、高ピン数デバイスのテストをサポートするために最適化されたSIPアーキテクチャに基づいています。これには、低電圧試験、多数のバーンインテスト、プローブ、アクセサリが含まれます。このシステムは、高電圧テスト、クロックソース、パッドプログラマブルおよび独自のテストなどの複数のタイプのテストを実行するようにプログラムすることができます。このユニットには、デバッグ用のプログラマブルオシロスコープなどの追加機能が含まれています。さらに、ADVANTEST T 5375はデータ収集と分析を統合しており、ユーザーはテストデータをリアルタイムで生成および分析することができます。これにより、故障および限界デバイスのパフォーマンスの根本原因を迅速かつ正確に特定することができ、不要な修理の数を減らし、フィールド収率を改善するのに役立ちます。ADVANTEST T5375は、さまざまなマイクロプロセッサ、メモリ、ロジックデバイス向けの高度なテストソリューションです。高度な機能と統合されたマシンレベルのテストおよびデバッグ機能により、あらゆる半導体テストのニーズに対応する強力で費用対効果の高いソリューションです。
まだレビューはありません