中古 ADVANTEST T 5372 #9011379 を販売中
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ID: 9011379
Testers
Configuration:
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 512DR+320I/O(HALF)
2.1024DR+640I/O(FULL) [1-2] ...> 2
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] ...........> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ..........> 1-64,97-118
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] ...........> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ..........> 1-64,97-118
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8
SIZE OF FMRA BOARD [1:8G,2:16G] ....................> 2
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G] .....................> 2
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> YES
RCPU STN1 A-D EXIST [Y,N] .......................> YES
RCPU STN2 A-D EXIST [Y,N] .......................> YES
END SAVE.
ADVANTEST T 5372は、現代の半導体生産の厳しい要求を満たすように設計された汎用性の高い最終試験装置です。このシステムは、自動車、通信、家電、その他の新興アプリケーションなどのアプリケーションで使用される非常に高速で非常に敏感なデバイスの両方をテストすることができます。それは有名な性能、柔軟性および信頼性の最高品質のテストを可能にします。ADVANTEST T5372には、強力なテストヘッドコントローラと分散アームアーキテクチャが装備されています。テストヘッドコントローラは、WindowsベースのPCを使用してユニット管理機能を実行し、分散アームアーキテクチャは最大5つのテストヘッドをサポートします。このセットアップにより、ユーザーは、特定の変更されたテストのニーズを満たすようにマシンを構成することができます。たとえば、シグナルルーティングとマルチプレクサを備えた複数のテストヘッドコントローラを構成でき、効率的な高いテストリソース使用率を実現できます。T 5372はまた、自動テストのための機能を提供します。テストシーケンス、テストパラメータの選択、テスト結果の管理を自動化できます。複数のテストヘッド構成で複数のサイトを制御でき、手動、半自律、または完全自律テストモードで実行できます。さらに、このツールには、ウェーハレベルの情報を追跡するためのバーコードリーダーが装備されており、ユーザーは複数のデバイスを簡単に追跡することができます。また、オシロスコープ、電源、スキャンテスターなど、さまざまな試験機器を制御することもできます。アセットは、信頼性と再現性の高い高品質のテストを提供するために設計されています。最も一般的に使用される2つのインターフェイスプロトコル（SPIとJTAG）をサポートし、半導体デバイスのテスト範囲を強化します。さらに、物理デバイスの状態を検出し、故障診断を改善します。また、HiPot、インサーキット機能テスト、および外部デバイス保護/回路テスターなど、ユーザーのすべてのテストニーズをカバーする複数のテスト技術も提供しています。T5372は最終的なテストの目的のための顕著な解決です。これは、信頼性の高いパフォーマンス、柔軟なアーキテクチャ、洗練されたテスト機能を備えた、現代の生産環境で最高品質のテストを提供するように設計されています。
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