中古 ADVANTEST T 5371 #9259701 を販売中

製造業者
ADVANTEST
モデル
T 5371
ID: 9259701
Tester Qty / Part number / Description (4) / BGM-023178 / CAL / SIG Boards (44) / BGM-023206X04 / DR IO PE Boards (1) / BGM-023127 / TH CONT Board (1) / BGM-023128 / DC MUX Board (4) / BGR-022365 / PPS Boards (4) / BGR-022365 / PPS Boards (1) / BGR-022365 / PPS Board (1) / BGR-022365 / PPS Board (8) / BGR-022363 / DPU IF Boards (2) / BGR-024701 / DC Boards (2) / BGR-023419 / TP VIO Boards (1) / BGR-023126 / VIO IF Board (1) / BGR-022449 / CBOX I/F Board (1) / BGR-022449 / CBOX I/F Board (1) / WBL-023086 / MCPU Board (1) / BGR-024409 / APLG Board (8) / WBL-023084 / RCPU Boards, Assy with (2) BLN-027527 (BCA) (5) / BGR-024840 / TGFC Boards (2) / BGR-024569 / FTDIST Boards (1) / BIR-024571X02 / FTU IF Board (1) / BGR-024410 / FMCONT Board (1) / BGR-024412 / PM Board, Assy with (4) BGC-024518 (CAA) (4) / BIR-024413 / FMRA Boards, Assy with (8) BGC-025755 (7) / BGR-024841 / SC Boards (2) / BGR-024570 / SCDIST Boards (1) / BGR-024641 / TERM Board (1) / BGR-024869 / PS MONI Board.
ADVANTEST T 5371はICパッケージおよび組み立てられたプリント基板(PCB)をテストするために設計されている最終試験装置です。複数の試験要件に対応できる汎用性と使いやすいシステムです。このユニットは、基板ローダーとテストハンドラ用のベースユニットで構成されており、フラッシュメモリ、Machine on Chip (SoC)、デバイスドライバ、ソフトウェアテストなどのアプリケーション用のオプションのハンドリングモジュールと周辺機器でアップグレード可能です。ADVANTEST T5371は、グラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)を介して簡単な制御操作を提供し、迅速なセットアップ時間とスループットの向上を可能にします。モジュール設計により、ユーザーはテスト構成をカスタマイズし、要件を満たすために高品質のコンポーネントを選択することができます。このツールには、抵抗、静電容量、インダクタンス、周波数、温度の測定など、幅広い用途に特化した測定と機能が含まれており、高速メモリおよびアナログ機器のテストに理想的なソリューションを提供します。T 5371は最大50MHzのテスト速度を持ち、12レーンで最大600台のバスを同時にテストすることができます。手動および自動フィードとビア穴検出の両方を備えており、迅速なエラー検出と分析のための強力な内蔵診断プログラムが含まれています。このアセットは、BGAからThru-HoleまでのさまざまなICパッケージタイプ、および最大8KバイトのFPGAメモリをサポートします。さらに柔軟性を高めるため、EthernetまたはGPIBインターフェイスを使用して、テストモデルをより大規模な機器に簡単に統合できます。このインターフェイスは、より高いレベルのテストのセットアップと制御のための変数とプログラムフローへのアクセスを提供します。バッチソート、データトラッキング、プログラミング機能、リモート診断機能などの高度な機能は、すべてシステムによってサポートされています。T5371は、さまざまな自動テストのニーズに対応して設計されており、データ分析、シミュレーション、リアルタイム操作のための幅広いソフトウェアパッケージが装備されています。これにより、複数のテスト要件を迅速かつ効率的に設定および実行できます。その結果、誤った試験結果を低減し、生産プロセスを改善し、コストを削減するのに役立ちます。
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