中古 ADVANTEST T 5371 #9250314 を販売中
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ID: 9250314
Memory tester
CPU Type: SPARC
Compressed air consumption: 5-10 Nl/min
Compressed air requirement: 0.49-0.69 MPa
Power consumption: 13 kVA
Power requirement: 200 VAC, 3 Phase
Product / P/N / Revision / Title
ASXUBASE / PASX51-70**** / 2.03 / SunOS Release 5.7
ATW51SU / PASX51-70**** / 6.03-1 / ATLworks for T5500 Series
DIAG5371SU / PASX51-70**** / 1.03A1 / Tester Diagnosis (T5371)
SYSTEST51SU / PASX51-70**** / 6.03-4 / ADI/SYS TEST (T5581 Series)
TESTUTL51SU / PASX51-70**** / 6.03-2 / Tester Utilities (T5581 Series)
WBMA51SU / PWBM51-00**** / 5.04 / Workbench-M2 for T5500 Series (Analysis Tools)
XATL51SU / PXTL51-36**** / 3.02-2 / XATL/U-51 Cross Compiler
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD:
PIN CONFIGURATION
1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE
0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 1
NUMBER OF AFM BOARD [0-8] ............................> 4
SIZE OF AFM BOARD [1:1G, 2:4G] .....................> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:576M] ..........................> 1.
ADVANTEST T 5371はデジタル、アナログおよび混合された信号装置の自動テストに使用することができる高性能の最終試験装置です。高ピン数チップやフリップチップなどの複雑な構成をテストするための費用対効果の高いソリューションを提供し、幅広いアプリケーションに信頼性の高いテストソリューションを提供します。システムは強力なハードウェアアーキテクチャに基づいており、モジュール式のレイアウトにより、ユニットのセットアップと構成の柔軟性が向上します。32bit RISCプロセッサを搭載しており、試験治具やデータ処理を制御し、プログラム可能なDRAMや最大8つの独立したDCソースを制御する機能など、さまざまなリソースを備えています。また、クイックテスト構成用のインスタントオン機能、高速テスト用の自動キャリブレーション機能、テストパラメータの正確な制御が必要なアプリケーションをテストするための統合リレーインターフェイスなど、多くの追加機能も含まれています。ADVANTEST T5371は、提供されるIEEE-488、 RS232およびイーサネットインターフェイスを使用して、他の試験装置、ならびに産業および実験室のオートメーションソフトウェアとシームレスに統合することができます。また、BINARY/DECY、 BINARY/JANACY、 IDF、 EPCなどの通信プロトコルもサポートしています。テストセットアップの分野では、T 5371は効率的な電源測定、測定条件の設定、およびデバイスパラメータ調整を提供します。また、組み込みのテストシーケンスと強力なリモート制御機能を使用して、テストのセットアップと検証を自動化することもできます。これにより、複雑なテスト操作を独立して自律的に実行することができます。温度、湿度、光、騒音、振動などの環境試験は、提供された試験治具を使用して制御された方法で行うことができます。これらには、イグルー、振動テーブル、サーモスタットエンクロージャ、温度チャンバーが含まれます。それはまた改善された装置保護のためのハネウェルの制御用具そして自動冷却ファンを含んでいます。T5371アセットには、豊富なオンラインヘルプモデルによってサポートされている、使いやすいユーザーメニューインターフェイスの詳細が含まれています。これにより、機器を簡単に操作し、必要な操作を実行することができます。ADVANTEST T 5371は多くの種類のデジタル、アナログおよび混合された信号装置を扱うことができますテストの高精度そして再現性を提供します。テストシステムはマルチサイトテストもサポートしているため、複数のデバイスで同時にテストを実行できます。ADVANTEST T5371 Final Test Unitは、デジタル、アナログ、ミックスドシグナルデバイスの自動テストと検証のための信頼性と費用対効果の高いソリューションを提供するように設計されています。そのモジュラー設計により、マシンの構成と設定の柔軟性が向上します。一方、強力なハードウェアアーキテクチャと組み込み機能の範囲により、ラボ環境と生産環境の両方に最適です。
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