中古 ADVANTEST T 5371 #9238983 を販売中
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ID: 9238983
ヴィンテージ: 2004
Memory tester
Single head
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD:
PIN CONFIGURATION:
1. 480DR+320I/O (HALF)
2. 768DR+512I/O (FULL)
3. 960DR+640I/O (FULL)
4. 240DR+160I/O (QUARTER) [1-4] ...> 4
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE
0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 0 0 0
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 0 0 0
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 0 0 0
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 0 0 0
CHILD E1 ....> 0 0 0
CHILD E3 ....> 0 0 0
CHILD F1 ....> 0 0 0
CHILD F3 ....> 0 0 0
CHILD G1 ....> 0 0 0
CHILD G3 ....> 0 0 0
CHILD H1 ....> 0 0 0
CHILD H3 ....> 0 0 0
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1:
DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-16
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-16
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 1
NUMBER OF AFM BOARD [0-8] ............................> 2
SIZE OF AFM BOARD [1:1G, 2:4G] .....................> 2
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:576M] ..........................> 1
END SAVE
2004 vintage.
ADVANTEST T 5371最終試験装置は、ADVANTEST Corporationが開発した自動試験機で、フル機能の統合システムで優れた試験および測定性能を提供するように設計されています。高周波トランジスタ、RF/マイクロ波部品、ICなどの半導体デバイスをテストするための費用対効果の高いプラットフォームです。テスト精度とスループットを最適化するために、ADVANTEST T5371はTestStudioソフトウェアスイートを備えています。これには一連の使いやすい画面が含まれており、テストプログラムをすばやく設計および展開できます。T 5371には、1.5GHz RF/マイクロ波測定、-121〜+20 dBmのダイナミックレンジ、2048信号チャネル、および周波数DC-1.5GHzが付属しています。また、最大273,223 kHzの帯域幅をサポートする高密度周波コンバータを提供しています。T5371は、高周波トランジスタ、RFコンポーネント、SOIおよびBSIデバイスのテストに適しており、高周波と低周波デバイスを自動的に識別します。その自動脱埋め込みは、高周波デバイス試験からノイズやアーティファクトを除去し、1つの機器で最大1.5GHzの最大周波数のデバイスのテストを可能にします。高速制御ユニットADVANTEST T 5371は、自動検出および自動周波数測定プログラムを雷の速度で処理でき、高度な重要な測定に適しています。ADVANTEST T5371には、高度な統計機能セットもあります。これには、テスト結果の平均、標準偏差、分布、および完全な分布マッピングおよびテストレポートの生成を調べる機能が含まれます。この機能セットは、測定で見つかった障害の原因と潜在的な解決策を正確に特定し、テスト結果の評価とデバッグに必要な時間とリソースを削減しながら、生産プロセスに最高レベルの信頼性を提供するのに役立ちます。さらに、TestStudioソフトウェアとテストマシンとの緊密な統合により、高度なデバッグ解析と強力なテスト生成機能を提供します。この統合により、生の測定結果を簡単に表示および処理できます。また、自動化されたレポート生成により、エンジニアはテスト中のデバイスのパフォーマンスを迅速かつ簡単に評価することができます。全体的に、T 5371は、テストと測定の精度とスループットを最適化するために設計された、強力で使いやすい最終テストツールです。高度な機能セットとタイトなソフトウェア統合により、高周波半導体デバイスの製造における試験および測定の専門家に最適です。
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